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技術資料
Z-ASSISTの概要説明
本稿では、緩和時間分布（DRT）を利用したインピーダンス解析支援ソフトウェアであるZ-ASSISTについて、フィッティング例と解析結果例をご紹介します。
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技術資料
平板電極の腐食測定
本文書では、腐食測定で広く使われている平板電極について、測定に使用する設備と、よくあるトラブル事例を紹介します。
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技術資料
Z-RWでのZ-ASSIST解析結果活用について
本稿では、インピーダンス解析について、Z-Assistソフトウェアによる初期値算出後、Z-RWソフトウェアによりインピーダンス結果解析する方法についてご紹介します。
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技術資料
クーロン効率測定における精度と確度
ここ数年、いくつかの研究プロジェクトが、電池寿命を研究するためのツールとしてクーロン効率（CE）に焦点を当ててきました。従来の試験条件（単純な充放電条件）において、電極や電解質の変化が電池寿命に及ぼす影
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技術資料
薄膜電池の充放電試験における注意点
薄膜電池の微小電流による充放電試験時に考慮すべき、測定装置の「内部抵抗」および「漏れ電流（バイアス電流）」について解説しています。これらの影響と留意点をご説明します。
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技術資料
「LIBにおける副反応解析について」BCS-900～Part1：CV測定とdQ/dV解析～
リチウムイオン電池の性能評価において、充放電時の副反応の解析は不可欠です。本文書では、副反応解析に有効なdQ/dV解析についてご紹介します。
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技術資料
高抵抗サンプルにおけるガード電極の必要性
ガード電極は、絶縁性が高い誘電体サンプルのインピーダンス測定において、測定誤差を回避するために重要な役割を果たす電極の一つです。本稿では、絶縁性の高いサンプルに適している理由とその効果についてご紹介し
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技術資料
液体電極を使った誘電率測定
液体の誘電率測定に適した治具は一般に少なく、再現性の高い測定を行うことが困難です。当社では、液体の誘電率を安定かつ高精度に測定可能な専用サンプルホルダをラインアップしており、温度・周波数依存性を含めた
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技術資料
微小電流測定におけるノイズ対策とその効果
本項では、実際に外部ノイズの影響を受けた微小電流の測定データを示し、その対策方法について説明します。
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技術資料
インピーダンス測定品質評価（EIS-QI）機能の活用～正しいEIS測定のために～
本稿では、EC-Labソフトウェアに付属しているインピーダンス測定を正確に行うための品質評価機能ついて紹介します。
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技術資料
電気化学インピーダンス法による 新規材料の特性診断（名古屋工業大学 工学専攻 材料機能プログラム 准教授 星 芳直氏）
3Dインピーダンス法は、実数軸・虚数軸・時間軸を用いた3Dナイキスト線図により、インピーダンスの時間変化を可視化する革新的な手法です。名古屋工業大学 准教授 星 芳直氏による資料をご紹介しています。
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技術資料
インピーダンス確度マップの見方
インピーダンスアナライザのインピーダンス測定確度は、インピーダンスの大きさと測定周波数に依存します。ポテンショ/ガルバノスタットとインピーダンスアナライザの仕様は、確度マップ[1]と呼ばれるグラフにより与
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技術資料
IRドロップ ③-ZIRテクニックの適切な使い方
IRドロップ②で示した通り、EIS測定は電解液抵抗RΩ（または、未補償抵抗Ru）を求める優れた手法です。RΩは、作用電極と参照電極の間の電解液抵抗だけでなく、配線などといった作用電極自体に寄与するすべての抵抗値の
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技術資料
IRドロップ②-IRドロップ測定技術の紹介
オーミックドロップ（以下、IRドロップと記載します）とは、材料を通る電子の流れに起因する過電圧を意味します。電気化学では一般的に、電解液の抵抗や、表面の薄膜や接続によって起因する電圧を表します。 Applic
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技術資料
IRドロップ ①－測定への影響
オーミックドロップ（以下、IRドロップと記載します）とは、材料を通る電子の流れに起因する過電圧を意味します。電気化学では一般的に、電解液の抵抗や、表面の薄膜や接続によって起因する電圧を表します。 このア
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技術資料
EC-Lab®でのバッテリーと腐食のEIS信頼性評価：THD、NSD、NSR
EISは、ある状態の電気化学系の研究において、界面で起こる反応の性質を理解するために使用される有効な測定手法であり、電位または電流の正弦波を印加することで得られる測定系の線形応答解析により求められます。
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技術資料
リチウムイオン電池のインピーダンス測定 EC-Lab®ソフトウェアの測定条件最適化
ユーザがEC-Lab®ソフトウェアで良好な測定結果を得ることをサポートすることです。そのために、いくつかの重要なポイント（接続方法、ケーブル長、実験条件など）の詳細を以下に記載します。
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技術資料
疑似容量（CPE）の計算
ある電気化学系においてナイキスト線図のプロットは、半円の中心が実数軸の下に位置し、つぶれた半円を描くことがあります。この特性は、電極の表面が荒い場合に起こります。 このつぶれた半円は、通常シミュレーシ
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技術資料
電気化学インピーダンス測定におけるドリフト補正
電気化学分野でインピーダンス測定を行う場合にはいくつかの適用条件があり、線形性・不変性・因果性の3点になります。実際、サンプルが定常状態に達していない場合、インピーダンス測定の適用条件を満たすことがで
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技術資料
間欠接触（ic-）SECMの利点：腐食における2つの例
M470はic-SECM (intermittent contact-Scanning ElectroChemical Microscopy: 間欠接触走査型電気化学顕微鏡)能力を搭載する市場で唯一の市販走査型電気化学顕微鏡です。ウォーリック大学1,2と共同で開発された革新
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