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TESCAN社 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)
TESCAN社 X線マイクロCTシステム
電子顕微鏡組込み型 表面物性計測装置
ナノインデンター・薄膜機械特性
原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)
AFM/SPM用プローブ
ピックアップ情報
展示会情報
ASTEC2022 (2022年1月26日(水)~2022年1月28日(金))
重要なお知らせ
導入アーカイブ
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NEW 高ひずみ速度における材料特性評価を行うためのインパクト試験をご紹介します。 続きを読む
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生体材料や液中の高分子材料といった軟質な材料は、筋肉や細胞の研究といった医学的な側面から圧力センサーなどの保護膜として用いるシリコーンゲルや溶液中のリチウムイオン電池のバインダーフィルムのような工業的な分野まで、非常に多くの場所で活用されています。こうした材料は粘性的な特性を持ち、その流動性やしなやかさをうまくコントロールすることで実用上の不具合を無くす取り組みがなされております。 このページでは従来インデンテーション装置では測定が難しかった、弾性率がkPaオーダーのサンプル特性評価事例を紹介します。 続きを読む
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ゴムの硬さの評価は様々ありますが、押し込みの手法としてはショア硬さ(デュロメータ)が挙げられます。デュロメータのタイプAでは先端が平らな圧子を材料の表面に押し当て凹み量を計測します。ナノインデンターでこのゴム硬さとの相関を検証しました。 続きを読む
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ナノインデンテーション法を用いて硬度やヤング率を測定する場合に、サンプルによっては値が大きくばらつきを持つことがあります。ばらつきが大きくなった原因となる事例を本稿でご紹介いたします。 続きを読む