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XeプラズマFIB-SEM
走査電子顕微鏡（SEM）
ナノインデンター・薄膜機械特性
プレクリニカルイメージング装置
走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)
AFM/SPM用プローブ
イメージ解析ソフトウェア
マイクロプロッタ
膜型表面応力センサー(SD-MSS)
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特殊プローブ
標準サンプル/アクセサリ
プリマウントプローブ(PNI社用)
>1MHz(1.2～5MHz)
300kHz前後(285～400kHz)
200kHz前後(160～210kHz)
100kHz前後(90～130kHz)
75kHz前後(50～85kHz)
13kHz前後(6～30kHz)
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