ニュース
- 2020.12.28 技術情報 ナノインデンテーションを用いた放射線損傷の評価事例
- 2020.12.22 セミナー 半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナーを開催します(2021年1月29日)
- 2020.12.07 セミナー 弊社社員が、物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム地域セミナーで、XeプラズマFIB-SEMに関する講演を行います。（2021年1月8日）
- 2020.12.01 お知らせ 2020年度末AFMプローブキャンペーン実施中 ～2021年3月31日(水)まで
- 2020.11.27 製品情報 TESCAN社より、自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】リリースしました。
製品・サービス一覧
TESCAN社 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)
ナノインデンター・薄膜機械特性
AFM/SPM用プローブ
膜型表面応力センサー
ピックアップ情報
展示会情報
東陽ソリューションフェア2020(アンコール開催準備中)
重要なお知らせ
導入アーカイブ
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ナノインデンテーションを用いた低温での少量のスチレンブタジエンゴムの動的機械特性タイヤ、バインダー、バッテリー、スピーカー、および建設用途などで幅広く使用されているSBR(スチレンブタジエンゴム)に対して、冷却下での動的粘弾性特性をナノインデンターを用いて取得しました。
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ナノインデンターは局所領域の硬度・ヤング率を測定することが可能です。熱サイクルを加えた溶射膜の断面に対し、多点押し込み試験を行うことにより、統計的に溶射膜の機械特性の変化を捉えることが可能です。
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ナノインデンテーション法を用いて硬度やヤング率を測定する場合に、サンプルによっては値が大きくばらつきを持つことがあります。ばらつきが大きくなった原因となる事例を本稿でご紹介いたします。
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ナノインデンターの機能として、動的荷重を用いることで硬度・ヤング率の深さプロファイルを取得することが可能です。本稿ではこの技術の肝である連続剛性測定法(CSM)の基本原理について解説します。
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