ナノ
イメージング

TESCAN社　電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)

• Xe プラズマ FIB-SEM  (2)
• Ga FIB-SEM  (2)
• SEM  (4)
• In-SEM ナノインデンター  (1)
• X線マイクロCTシステム  (3)

ナノインデンター・薄膜機械特性

• ナノインデンター  (6)
• 薄膜硬度計  (1)
• 引っ張り試験システム  (1)
• 超薄膜ヤング率測定  (1)

AFM/SPM用プローブ

• 先端形状から選ぶ  (48)
• 用途から選ぶ  (60)
• コーティングの種類から選ぶ  (54)
• バネ定数から選ぶ  (50)
• 共振周波数から選ぶ  (59)
• 先端曲率から選ぶ  (54)
• モデル名から選ぶ  (47)
• 特殊プローブ  (22)
• 標準サンプル/アクセサリ  (7)
• プリマウントプローブ(PNI社用)  (2)

膜型表面応力センサー

• 膜型表面応力センサー(SD-MSS)  (2)