• XeプラズマFIB-SEM
• 走査電子顕微鏡（SEM）
• ナノインデンター・薄膜機械特性
• 走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)
• AFM/SPM用プローブ
• イメージ解析ソフトウェア
• マイクロプロッタ
• 膜型表面応力センサー(SD-MSS)

• FE-SEM
• 汎用SEM
• In-SEM オプション

• ナノインデンター
• 薄膜硬度計
• 引っ張り試験システム
• 超薄膜ヤング率測定

• 低価格AFM/SPM
• プローブ顕微鏡周辺機器

• 先端形状から選ぶ
• 用途から選ぶ
• コーティングの種類から選ぶ
• バネ定数から選ぶ
• 共振周波数から選ぶ
• 先端曲率から選ぶ
• モデル名から選ぶ
• 特殊プローブ
• 標準サンプル/アクセサリ
• プリマウントプローブ(PNI社用)

• 標準
• 超先鋭化(スーパーシャープ)
• 高アスペクト
• TipViewタイプ
• ピラミッド
• Uniqprobe(双曲線型)
• 球状
• チップレス
• 円錐
• 円筒
• プラトー(平坦)

• 形状測定
• 電気測定
• 磁気測定
• 液中測定
• 高速AFM
• フォースカーブ
• 粘弾性測定
• 水平力測定
• スキャンアシスト
• スクラッチ

• Al(背面のみ)
• PtIr5
• PtSi
• ダイヤモンド
• 導電性ダイヤモンド
• 磁性
• Au(背面のみ)
• Au(両面)

• >42N/m
• 42N/m
• 15N/m
• >2.8N/m～10N/m
• 2.8N/m
• >0.2～1N/m
• 0.2N/m
• ≦0.1N/m

• >1MHz(1.2～5MHz)
• 300kHz前後(285～400kHz)
• 200kHz前後(160～210kHz)
• 100kHz前後(90～130kHz)
• 75kHz前後(50～85kHz)
• 13kHz前後(6～30kHz)

• 2nm
• 5nm
• 7nm
• 8nm
• 10nm
• >10nm～20nm
• >20nm～100nm
• >100nm～1μm
• >1μm

• NCH/NCL/NCST
• FM/SEIHR
• CONT/ZEILR/CONTSC/LFM
• PPP
• SSS
• AR
• Arrow
• AdvancedTEC
• EFM/Pt/PtSi
• MFM
• DT/CDT
• Au
• PNP
• Uniqprobe
• USC
• TL
• RT
• CP
• P-MCU-SICC
• OPUS

• 高耐久カーボンチップ
• スフィア(球状)
• プラトー
• ラウンド
• コロイダルプローブ
• 自己検知型
• 高Q値
• チップ反転
• 超高共振
• チップレス

• 標準サンプル
• プローブストレージキット
• 静電気チップ破壊防止用キット
• アライメントチップ

• 形状測定用
• 電気測定用