ニュース
- 2023.11.21 セミナー 【12月12日】電池材料向け機械特性評価セミナー ～ナノインデンターおよび関連製品の事例紹介～
- 2023.11.10 セミナー 【12月7日】TESCANセミナー2023を開催します。
- 2023.07.31 製品情報 TESCAN社走査透過電子顕微鏡「TENSOR」のカタログをアップしました。
- 2022.12.26 製品情報 超薄膜ヤング率測定システムLAWaveのアプリケーション事例紹介資料をアップしました。
- 2022.10.28 展示会 2022.10.27 【神奈川県横浜市】2022年11月10日(木)～12日(土)2022 日本ダイカスト会議・展示会に出展いたします。
製品・サービス一覧
TESCAN社 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)
TESCAN社 X線マイクロCTシステム
電子顕微鏡組込み型 表面物性計測装置
ナノインデンター・薄膜機械特性
原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)
AFM/SPM用プローブ
ピックアップ情報
展示会情報
JASIS2022 (2022年9月7日(水)～2022年9月9日(金))
重要なお知らせ
導入アーカイブ
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ナノインデンターによる電池材料の評価ナノインデンテーション装置(ナノインデンター)は試料の表面や局所的な硬さや弾性率を求める装置です。電池系材料を電解液中で測定したり、ナノインデンターをグローブボックスやドライルーム内に設置して測定を行ったりするニーズも高まっております。
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ナノインデンターを用いた材料のひずみ速度感受性を評価するための手法をご紹介します。
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SPECTRAL CTは、サンプルとの相互作用によって減衰する入射X線のスペクトルを利用して、従来のマイクロCTでは不可能だった材料内部の化学情報を3次元的に明らかにすることができます。非破壊で材料内部の任意箇所の化学情報を取得でき、内部構造・ミクロ組織と組み合わせて評価することが可能です。
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ゴムの硬さの評価は様々ありますが、押し込みの手法としてはショア硬さ（デュロメータ）が挙げられます。デュロメータのタイプAでは先端が平らな圧子を材料の表面に押し当て凹み量を計測します。ナノインデンターでこのゴム硬さとの相関を検証しました。
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