ナノイメージング
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低価格AFM/SPM

走査型プローブ顕微鏡(以下SPM;Scanning Probe Microscope)とは、ナノメートルオーダーにまで先鋭化されたプローブで、試料表面に働く距離に依存する物理量を測定し、表面形状や表面物性を可視化する顕微鏡です。その中でも現在最も用いられている手法が原子間力顕微鏡(以下AFM;Atomic Force Microscope)です。AFMは、SEMやTEMに匹敵する面分解能に加え、オングストロームレベルの高さ分解能を有しています。
SPMの応用例としては、金属や磁性膜がコートされたプローブを使用し、表面電位や電流、熱伝導度等の物性状態を可視化できます。
AFMの概略図
  特長
1) 表面形状の3次元定量計測
2) 絶縁物の非蒸着測定
3) 大気・溶液・ガス雰囲気中観察
4) サンプルを壊さないフォース・フィードバック
5) 表面電位・微小電流・熱伝導度などの物性マッピング
  • 新製品 デモ対応

    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
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    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
    AFMWorkshop

    コンパクトなテーブルトップAFM(原子間力顕微鏡)で、低価格ながら光てこ式AFMに求められる重要な機能や利点をすべて有しています。TT-2 AFMには、スキャンに必要となるステージ、制御用回路、プローブ、マニュアル、ビデオ光学顕微鏡のすべてが含まれています。

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