ナノ
イメージング
製品・サービス
取扱メーカー
アプリケーション
ナノイメージングセンター・受託分析
セミナー・展示会
事例紹介・技術資料
GLOBAL SALES
TOYOTech LLC USA
TOYO Corporation China
ENGLISH
カタログ一覧
FAQ
ログイン
お問い合わせ
閉じる
東陽テクニカ
ナノイメージング
製品・サービス一覧
製品・サービス一覧
カタログ一覧
FAQ
TESCAN社 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)
Xe プラズマ FIB-SEM
(2)
Ga FIB-SEM
(2)
SEM
(4)
In-SEM ナノインデンター
(1)
X線マイクロCTシステム
(3)
ナノインデンター・薄膜機械特性
ナノインデンター
(6)
薄膜硬度計
(1)
引っ張り試験システム
(1)
超薄膜ヤング率測定
(1)
AFM/SPM用プローブ
先端形状から選ぶ
(48)
用途から選ぶ
(60)
コーティングの種類から選ぶ
(54)
バネ定数から選ぶ
(50)
共振周波数から選ぶ
(59)
先端曲率から選ぶ
(54)
モデル名から選ぶ
(47)
特殊プローブ
(22)
標準サンプル/アクセサリ
(7)
プリマウントプローブ(PNI社用)
(2)
膜型表面応力センサー
膜型表面応力センサー(SD-MSS)
(2)
