セミナー・展⽰会ピックアップ
展示会
JASIS2020 最先端科学・分析システム&ソリューション展
幕張メッセ国際展示場 ブース番号6A-501
2020年11月11日(水)~13日(金) 2020年11月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00
2020年11月11日(水)~13日(金) 2020年11月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00
TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー 第1回・第2回
Online (Zoom Web会議システム)
集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。
日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
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2020年6月12日(金) 16:00~17:00 |
TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
2020年6月26日(金) 16:00~17:00 |
TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回~第7回
Online (Zoom Web会議システム)
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
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2020年5月18日(月) 13:30~14:30 |
押し込み試験の基本原理~ISO14577と連続剛性測定法~ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
2020年6月1日(月) 13:30~14:30 |
高速マッピング技術~統計的な有意差比較とマッピングの注意点~ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
2020年6月15日(月) 13:30~14:30 |
プローブDMA(動的粘弾性)の解説 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
2020年6月29日(月) 13:30~14:30 |
高荷重インデンテーションやスクラッチを用いた薄膜の剥離現象の検出 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
2020年7月13日(月) 13:30~14:30 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
2020年7月27日(月) 13:30~14:30 |
ディスプレイ保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター 第1回オンラインセミナー
Zoom Web会議システム
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
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2020年4月27日(月) 13:30~14:30 |
ナノインデンターの概要と機能紹介 | 無料 | 100 | 受付終了 |
展示会
ASTEC2020 (第15回先端表面技術展・会議)
東京ビッグサイト 南3ホール ブース番号:3S-M07
2020年1月29日(水)~1月31日(金) 10:00~17:00
2020年1月29日(水)~1月31日(金) 10:00~17:00
薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
展示会
JASIS2019に出展します
幕張メッセ・国際展示場 ブース番号:5B-801
2019年9月4日(水)~9月6日(金) 10:00~17:00
2019年9月4日(水)~9月6日(金) 10:00~17:00
集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、硬度・ヤング率測定システム、膜型表面応力センサ(MSS)、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。