セミナー・展⽰会

展示会

ASTEC2021 (第16回先端表面技術展・会議)

東京ビッグサイト 西1ホール      ブース番号:1W-C33
2020年12月9日(水)~12月11日(金) 10:00~17:00

薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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オンライン展示会

ナノインデンターオンラインセミナー(東陽ソリューションフェア)

東陽ソリューションフェア2020 Online

 12月9日(水)~11日(金)の3日間、オンラインイベント「東陽ソリューションフェア2020 Online」を開催いたします。
 表面分析装置としては、従来よりも「高速な評価」をテーマに、XeプラズマFIB-SEMナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の展示を行います。また、ナノインデンターについては下記の通り硬質材料・軟質材料それぞれセミナーも行いますので、ぜひご参加ください。

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セミナー・展⽰会ピックアップ

展示会

JASIS2020 最先端科学・分析システム&ソリューション展

幕張メッセ国際展示場 ブース番号6A-501
2020年11月11日(水)~13日(金) 2020年11月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00

TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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オンラインセミナー

TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー 第1回・第2回

Online (Zoom Web会議システム)

集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2020年6月12日(金)
16:00~17:00
TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 無料 95 受付終了
2020年6月26日(金)
16:00~17:00
TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析 無料 200 受付終了

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オンラインセミナー

硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回~第7回

Online (Zoom Web会議システム)

薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2020年5月18日(月)
13:30~14:30
押し込み試験の基本原理~ISO14577と連続剛性測定法~ 無料 95 受付終了
2020年6月1日(月)
13:30~14:30
高速マッピング技術~統計的な有意差比較とマッピングの注意点~ 無料 95 受付終了
2020年6月15日(月)
13:30~14:30
プローブDMA(動的粘弾性)の解説 無料 95 受付終了
2020年6月29日(月)
13:30~14:30
高荷重インデンテーションやスクラッチを用いた薄膜の剥離現象の検出 無料 200 受付終了
2020年7月13日(月)
13:30~14:30
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了
2020年7月27日(月)
13:30~14:30
ディスプレイ保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了

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オンラインセミナー

硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター 第1回オンラインセミナー

Zoom Web会議システム

薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2020年4月27日(月)
13:30~14:30
ナノインデンターの概要と機能紹介 無料 100 受付終了

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展示会

ASTEC2020 (第15回先端表面技術展・会議)

東京ビッグサイト 南3ホール      ブース番号:3S-M07
2020年1月29日(水)~1月31日(金) 10:00~17:00

薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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展示会

JASIS2019に出展します

幕張メッセ・国際展示場 ブース番号:5B-801
2019年9月4日(水)~9月6日(金) 10:00~17:00

集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、硬度・ヤング率測定システム、膜型表面応力センサ(MSS)、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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