セミナー・展⽰会
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術オンラインセミナー2022
Zoom ウェビナー
薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。祝日を除き、隔週で開催いたします。
セミナー・展⽰会ピックアップ
セミナー
ナノインデンターオンラインセミナー ～微小領域における機械特性評価事例～【再配信】
Zoom ビデオウェビナーナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の微小領域における機械特性評価事例をご紹介します。
招待講演として、大阪大学/渋谷 陽二先生とKLA社/Dr.Kurt Johannsを招聘しました。
※本セミナーは2022年3月に実施したセミナーの録画再配信です。
展示会
日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 併設展示会
2022年5月11日(水)～13日(金) 2022年5月11日(水)～13日(金) 9:00～18:00
TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、ダイナミックX 線マイクロCTシステム、KLA社硬度・ヤング率測定システムなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
KLA社主催 ディスプレイ材料評価技術シンポジウム(アジア向け)
Zoomウェビナー
KLA Instruments社では、ディスプレイ業界の技術・研究・製造の課題にフォーカスした、シンポジウムを開催いたします。
急速に進化する本分野の業界専門家による最新の情報をお届けします。
なお本セミナーはアジアのお客様向けのセミナーとなっており、日本のお客様に参加いただきやすい時間帯となっております。
展示会
ASTEC2022(第17回先端表面技術展・会議)
2022年1月26日(水)～2022年1月28日(金) 2022年1月26日(水)～2022年1月28日(金) 10:00～17:00
薄膜・表面の硬さや弾性率を測定するナノインデンターを中心に、InSEM-AFMやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析評価機器を展示いたします。
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー【再配信】
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薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年12月17日(金) 13:30～14:45 |
ナノインデンターの概要と機能紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2022年1月14日(金) 13:30～14:40 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2022年1月21日(金) 13:30～14:40 |
スマートフォン保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
展示会
JASIS2021 最先端科学・分析システム＆ソリューション展
2021年11月8日(月)～10日(水) 2021年11月8日(月)～10日(水) 10:00～17:00
TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
展示会
日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 併設展示会
2021年6月14日(月)～16日(水) 2021年6月14日(月)～16日(水) 9:00～17:30
TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、ダイナミックX 線マイクロCTシステム、KLA社硬度・ヤング率測定システムなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021 第1回・第2回
Zoomウェビナー
集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。近年プラズマイオン源を用いたFIB技術の登場によりサブmmスケールの大容量の高速加工が実現していますが、さらに大きな寸法領域での加工ニーズが高まっています。また、FIB-SEMの主要アプリケーションである3次元イメージングは、日進月歩で技術が進んでおり、柔軟性がますます広がっています。
今回のセミナーでは、大容量の断面・試料作製ワークフローとFIB-SEMによる3次元解析を中心に、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年6月29日(火) 13:30～14:15 |
大容量の断面・試料作製ワークフロー | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月13日(火) 13:30～14:15 |
FIB-SEMによる3次元解析 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回～第7回
Zoomウェビナー
薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。祝日を除き、隔週で開催いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年5月14日(金) 13:30～14:30 |
ナノインデンテーション法の基本原理～ISO14577と測定の注意点～ | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年5月28日(金) 13:30～14:30 |
高速マッピング技術～統計的な有意差比較とマッピングの注意点～ | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年6月11日(金) 13:30～14:30 |
動的押し込み試験(連続剛性測定法・プローブDMA)の解説 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年6月25日(金) 13:30～14:30 |
高荷重押し込みやスクラッチを用いた薄膜の破壊・剥離現象の検出 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月9日(金) 13:30～14:30 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月30日(金) 13:30～14:30 |
スマートフォン保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
ナノインデンターオンラインセミナー2021 第１回
Zoom ウェビナー
オンラインセミナー
ナノインデンターオンラインセミナー ～半導体材料の機械特性評価事例～
ナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の概要と事例をご紹介いたします。今回は招待講演があります。ルネサスエレクトロニクス株式会社/宇佐美氏とKLA社/Dr.Kurt Johannsを招聘します。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年1月29日(金) 13:30～15:30 |
半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナー | 無料 | 200 | 受付終了 |
セミナー
XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演
国立研究開発法人物質・材料研究機構、およびオンライン(Zoom)物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム主催の地域セミナー【微細構造解析遠隔支援の現状と課題】にて、弊社シニアマネージャー鈴木直久が「XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演」の講演を行います。
展示会
JASIS2020 最先端科学・分析システム＆ソリューション展
2020年11月11日(水)～13日(金) 2020年11月11日(水)～13日(金) 10:00～17:00
TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
展示会
JASIS2020 最先端科学・分析システム＆ソリューション展
2020年11月11日(水)～13日(金) 2020年11月11日(水)～13日(金) 10:00～17:00
TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
展示会
ASTEC2021 (第16回先端表面技術展・会議)
2020年12月9日(水)～12月11日(金) 10:00～17:00
薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー 第１回・第２回
Online (Zoom Web会議システム)
集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年6月12日(金) 16:00～17:00 |
TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月26日(金) 16:00～17:00 |
TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回～第7回
Online (Zoom Web会議システム)
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年5月18日(月) 13:30～14:30 |
押し込み試験の基本原理～ISO14577と連続剛性測定法～ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月1日(月) 13:30～14:30 |
高速マッピング技術～統計的な有意差比較とマッピングの注意点～ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月15日(月) 13:30～14:30 |
プローブDMA(動的粘弾性)の解説 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月29日(月) 13:30～14:30 |
高荷重インデンテーションやスクラッチを用いた薄膜の剥離現象の検出 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2020年7月13日(月) 13:30～14:30 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2020年7月27日(月) 13:30～14:30 |
ディスプレイ保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター 第1回オンラインセミナー
Zoom Web会議システム
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年4月27日(月) 13:30～14:30 |
ナノインデンターの概要と機能紹介 | 無料 | 100 | 受付終了 |