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日時
2017年07月21日(金)
13:00～17:00場所
慶應義塾大学 矢上キャンパス 36棟
硬度・機械特性評価技術セミナー
最先端デバイスで多用されている機能性薄膜の機械特性は、そのデバイスの耐久性を左右する重要なファクターです。本セミナーでは、薄膜の硬度・ヤング率を測定する基本原理のナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。また、実機デモンストレーションとラボツアーも計画しております。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2017年07月21日(金)
13:00～17:00ナノインデンターを使った薄膜機械特性評価技術セミナー 無料 33 -
日時
2017年3月10日(金)他
13:00～17:00場所
株式会社東陽テクニカ ナノイメージングセンター(慶應義塾大学 矢上キャンパス)
体験型ワークショップ「SEMの学校」
最新のSEMを実際に使いながら、観察条件と検出器の違いで見えるものがどう変わるかを知っていただく体験型ワークショップです。ZEISSのFE-SEMの圧倒的に簡単・迅速な操作を体験していただけます。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年1月24日(火)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 1月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 2016年2月23日(木)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 2月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 2016年3月10日(金)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 3月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 2016年4月26日(水)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 4月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 2016年5月24日(水)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 5月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 2016年6月22日(木)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 6月開催 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 -
日時
2016年02月15日(水)～17日(金)
10:00～17:00場所
東京ビッグサイト 東4ホール ブース番号：4S-27
ASTEC2017(先端表面技術展・会議)に出展します
薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブや走査電子顕微鏡SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2017年02月15日(水)～17日(金)
10:00～17:00ASTEC2017(先端表面技術展・会議) 無料 (事前登録・招待状所持の場合) － -
日時
2016年12月21日(水)
13:00～16:30場所
岐阜県工業技術研究所
岐阜県工業技術研究所でナノインデンター(薄膜硬度計)のセミナーを開催します
ナノインデンター(超微小硬度計)および原子間力顕微鏡(AFM)に関する講習会を岐阜県工業技術研究所で開催いたします。薄膜や試料最表面の硬さを測定するナノインデンターの動作原理および測定事例について、わかりやすく解説いたします。また、AFMについても測定原理と表面観察の事例を紹介いたします。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016/12/21
13:00～16:30ナノインデンターおよびAFMの測定原理と事例 無料 20名 -
日時
2016年12月14日(水)
13:00～17:00場所
株式会社東陽テクニカ ナノイメージングセンター
体験型ワークショップ「SEMの学校」
最新のSEMを実際に使いながら、観察条件と検出器の違いで見えるものがどう変わるかを知っていただく体験型ワークショップです。ZEISSのFE-SEMの圧倒的に簡単・迅速な操作を体験していただけます。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年12月14日(水)
13:00-17:00体験型ワークショップ「SEMの学校」 ￥5,000- (現地にてお支払下さい) 4名 -
日時
2016年11月30日(水)～12月2日(金)
10:00～18:00場所
パシフィコ横浜 展示ホール
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日時
2016年11月1日(火)
13:00～17:00場所
慶應義塾大学 矢上キャンパス 厚生棟(16A棟) 3階大会議室
硬度・機械特性セミナー
最先端デバイスで多用されている機能性薄膜の機械特性は、そのデバイスの耐久性を左右する重要なファクターです。本セミナーでは、薄膜の硬度・ヤング率を測定する基本原理のナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。また、実機デモンストレーションとラボツアーも計画しております。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年11月1日(火)
13:00～17:00ナノインデンターを使った薄膜機械特性評価技術セミナー 無料 100 -
日時
2016年9月21日(水)～23日(金)
10:00～17:00場所
大阪大学 豊中キャンパス
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日時
2016年9月14日(水)～16日(金)
10:00～17:00場所
トヨタ自動車本社 本館ホール
トヨタ計測ソリューションフェア'16
「もっといいクルマづくり」へ向けた商品力と品質の大幅向上と開発の効率を促進する世界の最新・最先端計測アイテムがトヨタに集結します。
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日時
2016年9月7日(水)～9日(金)
10:00～17:00場所
幕張メッセ国際展示場 ６ホール A404
JASIS2016展示会に出展 // 各種セミナーを開催
JASIS2016は毎年3日間で約5万人の研究・開発・製造に携わる人達が終結し、最新の分析機器・科学機器が展示されるアジア最大級の展示会です。
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日時
2016年8月25日(木)～26日(金)
9:30～17:00場所
東京ビッグサイト 西1ホール
イノベーション・ジャパン 2016に出展
関西学院大学と共同開発している「サブナノ結晶配向情報検出ウェハマッピング装置」の成果を、“イノベーション・ジャパン 2016”にて、初めて発表いたします。
この研究開発は、2015 年 10 月に国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構（NEDO）より、中堅・中小企業への橋渡し研究開発促進事業として採択されたテーマです。次世代パワー半導体材料として期待されている炭化ケイ素（SiC）や窒化ガリウム（GaN）のウェハ基板上の転位などの結晶欠陥や歪みの結晶配向情報をサブナノオーダーで高精度に自動検出するためのものであり、2018 年以降に SiC ウェハ基板の品質自動評価装置の製品化を目指しております。 -
日時
2016年6月10日(金)、6月17日(金)
13:00～17:00場所
6月10日(金)：東陽テクニカ テクノロジーインターフェースセンター (東京都中央区) 、 6月17日(金)：新大阪丸ビル新館 (大阪市東淀川区)
薄膜硬度計 新技術セミナー 【東京・大阪】
最先端デバイスで多用されている機能性薄膜の機械特性は、そのデバイスの耐久性を左右する重要なファクターです。
本セミナーでは、薄膜の硬度・ヤング率を測定する基本原理のナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年6月10日(金)
13:00～17:00薄膜硬度計 新技術セミナー 【東京開催】 無料 50 2016年6月17日(金)
13:00～17:00薄膜硬度計 新技術セミナー 【大阪開催】 無料 50 -
日時
2016年5月16日(月)
13:00～16:30場所
名古屋市工業研究所(名古屋市熱田区)
ナノインデンター新技術セミナー【名古屋開催】
ミクロン～数百ナノメートルオーダーの薄膜の硬さ・ヤング率の測定を可能とするナノインデンターの技術とその事例を紹介します。実機も展示いたします。ビッカース, 鉛筆硬度, スチールウールテストなどをお使いの方で、薄膜または最表面の評価にお困りの方はぜひご参加ください。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年5月16日(月)
13:00～16:30ナノインデンター新技術セミナー【名古屋開催】 無料 50 -
日時
2016年2月24日（水）
13:00～17:45場所
株式会社東陽テクニカ 本社ビル８F
東陽テクニカ本社でマイクロCTの新技術セミナー(実機デモあり)を開催します
≪マイクロCT新技術セミナー≫
ブルカーが開発した最新製品『高速/自動マイクロCT SkyScan1275』のすべてを、
ブルカー社のDr.Kjell氏による講演と実機デモンストレーションを通してご紹介いたします。
また、講演では、本機種にかぎらない現在のマイクロCTの新技術をスキャン事例や解析事例を交えて紹介します。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年2月24日(水)
13:00～17:45マイクロCT新技術セミナー：ブルカーが開発した最新製品『高速/自動マイクロCT SkyScan1275』のすべて 無料 80名 -
日時
2016年2月9日(火)
13:30～17:00場所
岐阜県工業技術研究所
岐阜県工業技術研究所でナノインデンター(薄膜硬度計)のセミナーを開催します
ナノインデンター(超微小硬度計)に関する講習会を岐阜県工業技術研究所で開催いたします。薄膜や試料最表面の硬さを測定するナノインデンターの動作原理および測定事例について、わかりやすく解説いたします。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016/2/9
13:30～17:00ナノインデンターの基本原理と測定の重要点について 無料 20名 -
日時
2016年01月27日(水)～29日(金)
10:00～17:00場所
東京ビッグサイト 東4ホール ブース番号:4P-21
ASTEC2016(先端表面技術展・会議)に出展します
今月より取り扱いを開始した薄膜硬度計を中心に、AFM/SPMプローブや走査電子顕微鏡SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年01月27日(水)～29日(金)
10:00～17:00ASTEC2016(先端表面技術展・会議) 無料 (事前登録・招待状所持の場合) -
日時
2016年1月21日(木)
13:00～16:45場所
株式会社東陽テクニカ 厚木分析センター (神奈川県厚木市森の里若宮11番1号)
電子顕微鏡ワークショップ 東陽テクニカ／オックスフォード・インストゥルメンツ合同開催 ～ZEISS GeminiSEMとOxford X-Max Extremeが拓く新境地～
高空間分解能での観察と分析をテーマにZEISS 走査電子顕微鏡の最新機種"GeminiSEM500"ならびにOxford ウインドウレスEDS "X-Max Extreme"の紹介・実演を行います。
日時 開催内容 費用 空席 定員 2016年1月21日(木)
13:00～16:45電子顕微鏡ワークショップ －ZEISS GeminiSEMとOxford X-Max Extremeが拓く新境地－ 無料 50名 -
日時
2015年10月19日（月）
10：30～17：00場所
株式会社東陽テクニカ 本社（東京 中央区）
X線CTによる食品内部構造の観察・計測 -デモ 付き！-
食品内部の構造を可視化する技術としても応用が進んでいる【X線マイクロCT】の原理，特長，測定方法を最新の解析事例を挙げながら解説します。
また、最新機種による測定デモ実演を交え，より理解を深めて頂ける内容です。
