東陽テクニカ
ナノイメージング
セミナー・トレーニング・展示情報

セミナー・展⽰会ピックアップ

過去に開催されたセミナー・展⽰会一覧

展示会

JASIS2020　最先端科学・分析システム＆ソリューション展

幕張メッセ国際展示場　ブース番号6A-501
2020年11月11日(水)～13日(金) 2020年11月11日(水)～13日(金)　10:00～17:00

TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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オンラインセミナー

TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー　第１回・第２回

Online (Zoom Web会議システム)

集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。

日時	開催内容	費用	空席	定員	申し込み
2020年6月12日(金) 16:00～17:00	TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介	無料		95	受付終了
2020年6月26日(金) 16:00～17:00	TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析	無料		200	受付終了

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オンラインセミナー

硬度・機械特性評価技術　ナノインデンター　オンラインセミナー　第2回～第7回

Online (Zoom Web会議システム)

薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。

日時	開催内容	費用	定員	申し込み
2020年5月18日(月) 13:30～14:30	押し込み試験の基本原理～ISO14577と連続剛性測定法～	無料	95	受付終了
2020年6月1日(月) 13:30～14:30	高速マッピング技術～統計的な有意差比較とマッピングの注意点～	無料	95	受付終了
2020年6月15日(月) 13:30～14:30	プローブDMA(動的粘弾性)の解説	無料	95	受付終了
2020年6月29日(月) 13:30～14:30	高荷重インデンテーションやスクラッチを用いた薄膜の剥離現象の検出	無料	200	受付終了
2020年7月13日(月) 13:30～14:30	DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介	無料	200	受付終了
2020年7月27日(月) 13:30～14:30	ディスプレイ保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介	無料	200	受付終了