セミナー・展⽰会ピックアップ
展示会
日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 併設展示会
2021年6月14日(月)～16日(水) 2021年6月14日(月)～16日(水) 9:00～17:30
TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、ダイナミックX 線マイクロCTシステム、KLA社硬度・ヤング率測定システムなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021 第1回・第2回
Zoomウェビナー
集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。近年プラズマイオン源を用いたFIB技術の登場によりサブmmスケールの大容量の高速加工が実現していますが、さらに大きな寸法領域での加工ニーズが高まっています。また、FIB-SEMの主要アプリケーションである3次元イメージングは、日進月歩で技術が進んでおり、柔軟性がますます広がっています。
今回のセミナーでは、大容量の断面・試料作製ワークフローとFIB-SEMによる3次元解析を中心に、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年6月29日(火) 13:30～14:15 |
大容量の断面・試料作製ワークフロー | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月13日(火) 13:30～14:15 |
FIB-SEMによる3次元解析 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回～第7回
Zoomウェビナー
薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。祝日を除き、隔週で開催いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年5月14日(金) 13:30～14:30 |
ナノインデンテーション法の基本原理～ISO14577と測定の注意点～ | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年5月28日(金) 13:30～14:30 |
高速マッピング技術～統計的な有意差比較とマッピングの注意点～ | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年6月11日(金) 13:30～14:30 |
動的押し込み試験(連続剛性測定法・プローブDMA)の解説 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年6月25日(金) 13:30～14:30 |
高荷重押し込みやスクラッチを用いた薄膜の破壊・剥離現象の検出 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月9日(金) 13:30～14:30 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2021年7月30日(金) 13:30～14:30 |
スマートフォン保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
ナノインデンターオンラインセミナー2021 第１回
Zoom ウェビナー
オンラインセミナー
ナノインデンターオンラインセミナー ～半導体材料の機械特性評価事例～
ナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の概要と事例をご紹介いたします。今回は招待講演があります。ルネサスエレクトロニクス株式会社/宇佐美氏とKLA社/Dr.Kurt Johannsを招聘します。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021年1月29日(金) 13:30～15:30 |
半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナー | 無料 | 200 | 受付終了 |
セミナー
XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演
国立研究開発法人物質・材料研究機構、およびオンライン(Zoom)物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム主催の地域セミナー【微細構造解析遠隔支援の現状と課題】にて、弊社シニアマネージャー鈴木直久が「XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演」の講演を行います。
展示会
JASIS2020 最先端科学・分析システム＆ソリューション展
2020年11月11日(水)～13日(金) 2020年11月11日(水)～13日(金) 10:00～17:00
TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置（FIB-SEM）、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
展示会
ASTEC2021 (第16回先端表面技術展・会議)
2020年12月9日(水)～12月11日(金) 10:00～17:00
薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。
オンラインセミナー
TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー 第１回・第２回
Online (Zoom Web会議システム)
集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年6月12日(金) 16:00～17:00 |
TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月26日(金) 16:00～17:00 |
TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回～第7回
Online (Zoom Web会議システム)
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年5月18日(月) 13:30～14:30 |
押し込み試験の基本原理～ISO14577と連続剛性測定法～ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月1日(月) 13:30～14:30 |
高速マッピング技術～統計的な有意差比較とマッピングの注意点～ | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月15日(月) 13:30～14:30 |
プローブDMA(動的粘弾性)の解説 | 無料 | 95 | 受付終了 | |
| 2020年6月29日(月) 13:30～14:30 |
高荷重インデンテーションやスクラッチを用いた薄膜の剥離現象の検出 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2020年7月13日(月) 13:30～14:30 |
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 | |
| 2020年7月27日(月) 13:30～14:30 |
ディスプレイ保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 | 無料 | 200 | 受付終了 |
オンラインセミナー
硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター 第1回オンラインセミナー
Zoom Web会議システム
薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。
| 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
|---|---|---|---|---|---|
| 2020年4月27日(月) 13:30～14:30 |
ナノインデンターの概要と機能紹介 | 無料 | 100 | 受付終了 |