過去に開催されたセミナー・展⽰会

展示会

トライボロジー会議2022 春 東京

Web会議システム(Zoom)
2022年5月23日(月)~25日(水) 2022年5月23日(月)~25日(水) 9:00~16:45

KLA社製ナノインデンター、TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)などの表面観察・分析機器を展示いたします。

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セミナー

ナノインデンターオンラインセミナー ~微小領域における機械特性評価事例~【再配信】

Zoom ビデオウェビナー

ナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の微小領域における機械特性評価事例をご紹介します。
招待講演として、大阪大学/渋谷 陽二先生とKLA社/Dr.Kurt  Johannsを招聘しました。
※本セミナーは2022年3月に実施したセミナーの録画再配信です。

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展示会

日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 併設展示会

ビッグパレットふくしま (福島県郡山市)
2022年5月11日(水)~13日(金) 2022年5月11日(水)~13日(金) 9:00~18:00

TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、ダイナミックX 線マイクロCTシステム、KLA社硬度・ヤング率測定システムなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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オンラインセミナー

KLA社主催 ディスプレイ材料評価技術シンポジウム(アジア向け)

Zoomウェビナー

KLA Instruments社では、ディスプレイ業界の技術・研究・製造の課題にフォーカスした、シンポジウムを開催いたします。
急速に進化する本分野の業界専門家による最新の情報をお届けします。
なお本セミナーはアジアのお客様向けのセミナーとなっており、日本のお客様に参加いただきやすい時間帯となっております。

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オンラインセミナー

ナノインデンターオンラインセミナー ~微小領域における機械特性評価事例~

ナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の微小領域における機械特性評価事例をご紹介します。今回は招待講演があります。
大阪大学/渋谷 陽二先生とKLA社/Dr.Kurt  Johannsを招聘します。
※本セミナーは2022年3月に実施したセミナーの録画再配信です。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2022年3月4日(金)
13:30~15:30
ナノインデンターを用いた微小領域における機械特性評価法 無料 120 受付終了

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展示会

ASTEC2022(第17回先端表面技術展・会議)

東京ビッグサイト 東ホール  ブース番号:3P-07
2022年1月26日(水)~2022年1月28日(金) 2022年1月26日(水)~2022年1月28日(金)  10:00~17:00

薄膜・表面の硬さや弾性率を測定するナノインデンターを中心に、InSEM-AFMやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析評価機器を展示いたします。

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オンラインセミナー

硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー【再配信】

Zoomウェビナー

薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年12月17日(金)
13:30~14:45
ナノインデンターの概要と機能紹介 無料 200 受付終了
2022年1月14日(金)
13:30~14:40
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了
2022年1月21日(金)
13:30~14:40
スマートフォン保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了

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展示会

JASIS2021 最先端科学・分析システム&ソリューション展

幕張メッセ国際展示場 ブース番号5A-101
2021年11月8日(月)~10日(水) 2021年11月8日(月)~10日(水) 10:00~17:00

TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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展示会

2021 IEEE International Interconnect Technology Conference

オンライン会議
2021年6月29日~7月31日 2021年6月29日~7月31日(Exhibition期間)

当社は2021 IEEE International Interconnect Technology Conference(IITC 2021)に出展します。
ぜひ弊社のバーチャルブースにお立ち寄りください。
IITC 2021の公式ページはコチラ

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オンラインセミナー

硬度・機械特性評価技術 ナノインデンター オンラインセミナー 第2回~第7回

Zoomウェビナー

 薄膜や試料の微小領域における硬さ・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。祝日を除き、隔週で開催いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年5月14日(金)
13:30~14:30
ナノインデンテーション法の基本原理~ISO14577と測定の注意点~ 無料 200 受付終了
2021年5月28日(金)
13:30~14:30
高速マッピング技術~統計的な有意差比較とマッピングの注意点~ 無料 200 受付終了
2021年6月11日(金)
13:30~14:30
動的押し込み試験(連続剛性測定法・プローブDMA)の解説 無料 200 受付終了
2021年6月25日(金)
13:30~14:30
高荷重押し込みやスクラッチを用いた薄膜の破壊・剥離現象の検出 無料 200 受付終了
2021年7月9日(金)
13:30~14:30
DLCやアルマイト等の自動車用硬質材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了
2021年7月30日(金)
13:30~14:30
スマートフォン保護膜等の高分子・ゴム材料の評価事例紹介 無料 200 受付終了

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オンライン展示会

実用顕微評価技術セミナー2021

実用顕微評価技術セミナー2021に出展します。ぜひ弊社のバーチャルブースにお立ち寄りください。
実用顕微評価技術セミナー2021の公式ページはコチラ

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オンラインセミナー

TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021 第1回・第2回

Zoomウェビナー

集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。近年プラズマイオン源を用いたFIB技術の登場によりサブmmスケールの大容量の高速加工が実現していますが、さらに大きな寸法領域での加工ニーズが高まっています。また、FIB-SEMの主要アプリケーションである3次元イメージングは、日進月歩で技術が進んでおり、柔軟性がますます広がっています。
今回のセミナーでは、大容量の断面・試料作製ワークフローとFIB-SEMによる3次元解析を中心に、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年6月29日(火)
13:30~14:15
大容量の断面・試料作製ワークフロー 無料 200 受付終了
2021年7月13日(火)
13:30~14:15
FIB-SEMによる3次元解析 無料 200 受付終了

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展示会

日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 併設展示会

つくば国際会議場
2021年6月14日(月)~16日(水) 2021年6月14日(月)~16日(水) 9:00~17:30

TESCAN社プラズマ集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、ダイナミックX 線マイクロCTシステム、KLA社硬度・ヤング率測定システムなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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オンラインセミナー

ナノインデンターオンラインセミナー2021 第1回

Zoom ウェビナー

 最先端デバイスで多用されている機能性薄膜の機械特性は、そのデバイスの耐久性を左右する重要なファクターです。
 本セミナーでは、薄膜の硬度・ヤング率を測定するナノインデンテーション法に関する基本原理とその応用例をご紹介いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年4月23日(金)
13:30~14:30
ナノインデンターの概要と機能紹介 無料 200 受付終了

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オンラインセミナー

ナノインデンターオンラインセミナー ~半導体材料の機械特性評価事例~

ナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の概要と事例をご紹介いたします。今回は招待講演があります。ルネサスエレクトロニクス株式会社/宇佐美氏とKLA社/Dr.Kurt  Johannsを招聘します。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年1月29日(金)
13:30~15:30
半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナー 無料 200 受付終了

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セミナー

XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演

国立研究開発法人物質・材料研究機構、およびオンライン(Zoom)

物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム主催の地域セミナー【微細構造解析遠隔支援の現状と課題】にて、弊社シニアマネージャー鈴木直久が「XeプラズマFIBを用いたGaフリー試料作製と各種材料への応用及びリモート操作実演」の講演を行います。
 

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オンライン展示会

ナノインデンターオンラインセミナー(東陽ソリューションフェア)

東陽ソリューションフェア2020 Online

 12月9日(水)~11日(金)の3日間、オンラインイベント「東陽ソリューションフェア2020 Online」を開催いたします。
 表面分析装置としては、従来よりも「高速な評価」をテーマに、XeプラズマFIB-SEMナノインデンター(薄膜機械特性測定装置)の展示を行います。また、ナノインデンターについては下記の通り硬質材料・軟質材料それぞれセミナーも行いますので、ぜひご参加ください。

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展示会

ASTEC2021 (第16回先端表面技術展・会議)

東京ビッグサイト 西1ホール      ブース番号:1W-C33
2020年12月9日(水)~12月11日(金) 10:00~17:00

薄膜・表面の硬度を測定するナノインデンターを中心に、AFM/SPMプローブやFIB-SEMなどサンプル表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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展示会

JASIS2020 最先端科学・分析システム&ソリューション展

幕張メッセ国際展示場 ブース番号6A-501
2020年11月11日(水)~13日(金) 2020年11月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00

TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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展示会

JASIS2020 最先端科学・分析システム&ソリューション展

幕張メッセ国際展示場 ブース番号6A-501
2020年11月11日(水)~13日(金) 2020年11月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00

TESCAN社集束イオンビーム-SEM複合装置(FIB-SEM)、KLA社硬度・ヤング率測定システム、走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)用カンチレバーなど表面の各種イメージング・分析技術をご紹介いたします。

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