オンラインセミナー

　TESCAN　FIB-SEMオンラインセミナー2022

開催日時

2022年8月22日　13時30分～14時15分

●ツール

    オンライン (Zoom)

集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。 今回のセミナーでは、姿勢制御技術を用いたFIB-SEMによる高品位TEM試料作製を中心に、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。


開催日時

2022年8月22日(月)　13:30～14:15

講演内容

姿勢制御技術を用いたFIB-SEMによる高品位TEM試料作製

  • TEM試料作製における課題と姿勢制御機能の必要性
  • ナノマニピュレータのユニークな配置
  • ロッキングステージによるTEM試料作製

開催方式

オンライン (Zoom)

参加費用

無料

セミナーのお申し込み

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  • 本セミナーは完全予約制です。事前申し込みをお願い申し上げます。
  • 本セミナーはZoomウェビナーシステムを使用したオンラインセミナー形式で行います。
  • 同業企業様のご参加はご遠慮いただいております。

お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ
ライフサイエンス＆マテリアルズ　鈴木・出口
電話：03-3245-1351
Email：bunseki@toyo.co.jp

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