日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 併設展示会

開催時間

2022年5月11日(水)~13日(金) 9:00~18:00

●場所

    ビッグパレットふくしま (福島県郡山市)

当社は日本顕微鏡学会 第78回学術講演会に出展します。

従来のGaイオンFIBに比べて50倍以上のミリングレートを有し、ダメージレスでmmオーダーの大容量加工を実現するTESCAN社製XeプラズマFIB-SEMシステム、およびそのユニークなオプションであるTOF-SIMS機能やラマン顕微鏡機能についてご紹介をいたします。また高い時間分解能を誇るTESCAN社製ダイナミックX線マイクロCTシステム、硬質膜から高分子材料まで幅広い材料の機械的特性評価を実現するKLA社製高分解能ナノインデンターもご紹介しております。

お持ちの機器では問題解決ができないとお困りの方、ぜひ東陽テクニカブースにお越しください。
 


出展製品

TESCAN社製
AMBER X Xe プラズマFIB-SEMシステム



 

TESCAN社の最新鋭AMBER Xは、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
パワー半導体やリチウムイオン電池、ソフトマテリアル、磁気材料など多種多様な素材に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、ToF-SIMS、ラマンといったマルチモーダルイメージングをフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現しました。

TESCAN社製
ダイナミックX線マイクロCTシステム


タイプラプス実験・その場観察に特化したラボ用ダイナミックCTで、10 秒以下の短い時間で360度回転する高い時間分解能と連続スキャンモードを標準装備しています。
また、DynaTOMシステムは、試料が回転しないガントリー式を採用しており、慎重な扱いが必要な流体・泡も観察対象となります。放射光施設でしかできなかった4D実験がラボベースで実現します。

KLA社製
iMicro ナノインデンター



 iMicro 薄膜機械的特性評価装置は、最大1N(約100gf)の荷重を発生できる、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、新しいレンジの押し込み硬度計です。
InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

講演

ロッキングステージおよび試料姿勢制御を用いた高品位TEM試料作製

日時  2022年5月12日(木) 15:45~16:00
会場  F会場
講演者 株式会社東陽テクニカ 兒玉 優

ランチョンセミナー

TESCAN 社製プラズマFIB-SEM の最新技術とその応用例

日時  2022年5月11日(水) 12:00~12:50
会場  E会場
講演者 株式会社東陽テクニカ 兒玉 優
座長  株式会社東陽テクニカ 鈴木 直久

日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 概要

2022年度の第78回学術講演会は、2022年5月11日(水)から5月13日(金)の3日間の会期で、ビッグパレットふくしま(福島県郡山市)で開催されます。
顕微鏡をキーワードに様々な分野の技術者・研究者が集い、装置・材料系や医学・生物系といった専門分野の垣根を越えて、更には学会や産業界の垣根を越えて、実りある講演が発表されます。
日本顕微鏡学会 第78回学術講演会のホームページはこちら(別ウィンドウ・外部リンク)

お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ ライフサイエンス&マテリアルズ
TEL:03-3245-1351
Email:bunseki@toyo.co.jp