JASIS2022 最先端科学・分析システム&ソリューション展

開催時間

2022年9月7日(水)~9日(金) 10:00~17:00

●場所

    幕張メッセ国際展示場 ブース番号4A-201

JASISは、分析機器、科学機器メーカーが一堂に会する最先端科学・分析システム&ソリューション展です。この分野ではアジア最大級の展示会です。
当社では今回、4つの主力製品群を出展します。

従来のGaイオンFIBに比べて50倍以上のミリングレートを有し、ダメージレスでmmオーダーの大容量加工を実現するTESCAN社製XeプラズマFIB-SEMシステム、およびそのオプションの1つであるTOF-SIMS機能についてご紹介をいたします。 また高い時間分解能を誇るTESCAN社製ダイナミックX線マイクロCTシステム、硬質膜から高分子材料まで幅広い材料の機械的特性評価を実現するKLA社製高分解能ナノインデンターによるデモンストレーションをご覧いただけます。 世界標準のNanoWorld社製AFM/SPM用プローブもご紹介しております。

お持ちの機器では問題解決ができないとお困りの方、ぜひ東陽テクニカブースにお越しください。


出展製品

TESCAN社製
AMBER X Xe プラズマFIB-SEMシステム



 

TESCAN社の最新鋭AMBER Xは、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
パワー半導体やリチウムイオン電池、ソフトマテリアル、磁気材料など多種多様な素材に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、ToF-SIMS、ラマンといったマルチモーダルイメージングをフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現しました。

TESCAN社製
ダイナミックX線マイクロCTシステム


TESCAN社の最新鋭UniTOM XLは、情報欠落のない真の4Dイメージングが可能なダイナミックX線CTシステムです。広域でCT画像を取得した後、内部の任意の箇所にズーム可能なVolume-of-Interest Scanning (VOIS)機能も装備しており、さまざまな試料・アプリケーションに柔軟に対応できる高速・マルチスケールシステムです。
さらに、材料内部の化学情報を3次元的に明らかにすることができるSPECTRAL CT機能を搭載可能で、内部構造・ミクロ組織と元素分布情報を組み合わせた評価を行うことができます。

KLA社製
iMicro ナノインデンター



 iMicro 薄膜機械的特性評価装置は、最大1N(約100gf)の荷重を発生できる、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、新しいレンジの押し込み硬度計です。
InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

新技術説明会

日付 時間 タイトル 場所
9月8日(木) 12:00~12:30 SEM/FIB-SEMとToF-SIMS、Raman、ナノインデンター、AFM、SBFIを組み合わせた相関分析技術の概要とその応用例 APAホテル A8

詳細はこちら(別ウィンドウ・外部リンク)

展示会概要

JASIS(ジャシス=Japan Analytical & Scientific Instruments Showの頭文字)は、2012年の第50回分析展(日本分析機器工業会)と第35回科学機器展(日本科学機器協会)を機に、合同展の統一名称として定められたものです。現在も、一般社団法人日本分析機器工業会および一般社団法人日本科学機器協会の主催で行われています。
JASISのホームページはこちら(別ウィンドウ・外部リンク)
 

お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ ライフサイエンス&マテリアルズ
TEL:03-3245-1351
Email:bunseki@toyo.co.jp