液晶物性評価システム LCE-X
液晶物性評価システム「LCE-X」は、液晶物性評価システム「6254型」及びTFT-LCD評価システム「LCM-3A型」の後継機種となります。電圧保持率、残留DC電圧及びイオン密度の測定を1台で行なえるシステムです。
同時測定の場合、最大8チャンネルまで拡張できますので、複数のサンプルを短時間に測定することが出来ます。一方、順次測定の場合、最大48チャンネルまで拡張できますので、大量のサンプルを測定する場合に効果的です。また、直流電圧印加モジュールを追加することで、実パネルでも電圧保持率やイオン密度の測定が可能になります。LCD材料の開発・品質管理、及び、LCDパネルの製造ライン立ち上げ・工程管理・不良解析の実現・歩留まり向上に寄与します。
1軸ハイエンドテスラメータ F41型 / 3軸ハイエンドテスラメータ F71型
e31カンチレバー逆圧電測定システム
4ch 低温温度コントローラ 350型
4ch 温度コントローラ 336型
2ch 温度コントローラ 335型
温度コントローラ 325型
WaveVortex10 回転リングディスク電極
センサ入力モジュール240型
DSPガウスメータ 475型
フラックスメータ 480型
ハイコストパフォーマンス ガウスメータ 425型
高精度計測用 DC,AC 電流/電圧電源 155型
12ch 低温温度モニタ 224型
224型 12ch 低温温度モニタは、適切なセンサーとの組み合わせで 低温300mKから800Kまでの幅広い温度範囲において 最大12個の温度センサを容易かつ高精度に測定が可能です。
特に低温領域において 温度センサにセルノックス(Cernox)センサを使用した場合、極低温:300mKまで 信頼性と再現性のある温度測定を実現します。
