NanoWorld AG
NCLシリーズは、装置のフィードバックループが高い周波数に対応していない場合や、光検出器システムがカンチレバー長さに制約を受ける場合にNCHシリーズの代用品として推奨されるタイプです。高い操作安定性と優れた感度を兼ね備えています。NCHシリーズよりも共振周波数が低いため、最大走査速度はわずかに減少します。
NCST シリーズは、ノンコンタクトまたはソフトタッピングモードイメージング用に設計されています。 比較的柔らかいカンチレバーで、共振周波数は160kHzと高めのため、試料と探針間の相互作用を少なくした状態で安定して速いスキャンを行うことが可能になります。脆弱で吸着の大きな試料の測定で効果を発揮します。
OPUS by μmasch®
4XCーGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ2種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。 カンチレバーA:コンタクトモード用 カンチレバーB:ソフトサンプルへのACモード用 カンチレバーC:標準ACモードイメージング用 カンチレバーD:高速スキャン用 先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。 四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
PointProbePlusシリーズの先端をさらに先鋭化し、先端曲率半径が2nm(5nm未満を保証)のプローブです。ナノ構造およびマイクロラフネスの解像度を高める、世界で最もシャープなAFMプローブです。フォースモジュレーション、タッピングモード、ノンコンタクトモード測定に使用可能なラインナップを取り揃えています。
ノンコンタクトモードまたはタッピングモードで急峻な壁や底面の形状を正確にトレースするためのプローブです。 一般的なプローブの先端をサブトラクト法によってFIB加工をすることで、探針先端のアスペクト比が5:1もしくは10:1でありながら、水平方向の堅牢性と先端の剛性が高いプローブを提供しています。 装置に取り付けた際に高アスペクト部が垂直になるように、13°傾いた状態でFIB加工をしたタイプのプローブ(AR5T)もあります。
チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。
チップにダイヤモンドコートを施し、耐久性を上げたプローブです。バネ定数が高く、サンプルに強い力をかけたスクラッチ試験などに向いています。
導電性を持たせたダイヤモンドをコーティングし、スキャンによる磨耗と高電流による膜破壊を低減させています。強い接触力やμAレベルの電流を流す必要があるアプリケーションに対応します。