半導体、誘電体・固体電解質など様々な材料評価に最適です。誘電体測定では電荷蓄積能力（キャパシタンス）や電荷輸送能力（コンダクタンス）を測定し、高分子の誘電緩和、固体電解質のバルク・粒界抵抗などの重要な情報を得ることができます。
各種サンプルホルダと組み合わせて温調・計測を連動した自動計測システムもご提案可能です。

バーチャルグラウンド・ローノイズQV/IV変換器や強誘電体評価ソフトウエアを自社開発。微小キャパシタからバルクの高電圧印加分極測定まで、プローバや付帯装置を含めたトータルなソリューションを提供します。

Andeen-Hagerling社 2700A型、2550A型は、比類ない高安定性、高分解能、高確度のキャパシタンス(C)／損失(D)ブリッジです。ユニークなレシオトランスフォーマと温度コントロールされたヒューズドシリカ標準キャパシタにより非常に高い安定度と確度を実現しています。物理、低温物性分野をはじめ、化学、工業、度量衡の分野で活用されています。

半導体材料の比抵抗とホール効果を測定し、その材料のキャリアタイプ、キャリア濃度、キャリア移動度を求める装置です。
交流磁場法やFastHall™法など特許取得の技術を用いて、種々サンプルの測定に対応します。

室温だけでなく材料の特性評価で必要な温調装置を取り揃えております。
冷凍機・クライオスタット・恒温槽・加熱炉など温度範囲は4K～1200℃にわたりご用意しておりますので、お客様に最適なソリューションを提案いたします。
計測器と組み合わせた計測システムとしてもお使いいただけます。

米国 INSTEC社製ホット・コールドステージは、高温・低温環境下での試料の顕微鏡観察や光学測定を可能にします。顕微鏡や分光器、FTIR、X線回折装置と使用するのに最適なツールです。ガスタイトや真空タイトモデルもご選択頂けます。簡易プローバーは標準で4プローブを有数るので高温低温下での電気特性評価を簡便に行えます。

誘電率・誘電損失の評価機器を取り扱っています。誘電体はコンデンサ・絶縁材・封止材など様々な用途で広くされていますが、誘電体・誘電損失評価はこれらのアプリケーションにおいて材料の良否を判定するための必須の評価項目です。

強誘電体のヒステリシス測定だけでなく、変位バタフライ測定も可能です。
また、関連製品として焦電体や分極電荷量評価可能な焦電体/熱刺激電流（TSC）測定システムを取り扱っています。

固体電化質の伝導度や活性化エネルギー評価に必要なインピーダンス測定器・温調装置を取り扱っており、バルク・粒界抵抗の切り分けに最適です。

半導体材料の基礎物性パラメータである比抵抗・ホール係数・移動度を算出します。組み合わせる温調器により最低4.2～最高800℃と広い温度範囲での評価が可能です。
また、当社特許技術を適用した交流法により従来では測定困難な高抵抗・低移動度サンプルにも対応可能で、新規材料探索にも最適です。