TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー 第1回・第2回

Online
2020年6月12日(金)
Online
2020年6月26日(金)

開催時間

16:00~17:00

●場所

    Online (Zoom Web会議システム)

集束イオンビームと走査電子顕微鏡が一体となったFIB-SEMは、マテリアル研究やデバイス故障解析などで多く使用されています。最近ではプラズマイオン源を用いたFIB技術や、TOF-SIMSやRamanを組み合わせたマルチモーダル分析技術が登場し、新しい展開を見せています。
本セミナーでは、TESCAN社FIB-SEMの最新情報を紹介いたします。

※ 同業企業様のご参加はご遠慮いただいております。

開催地 日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
Online 2020年6月12日(金)
16:00~17:00
TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 無料 95 受付終了
Online 2020年6月26日(金)
16:00~17:00
TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析 無料 200 受付終了
開催地 Online
日時 2020年6月12日(金) 16:00~17:00
開催内容 TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介
費用 無料
空席 定員 95
申し込み 受付終了
開催地 Online
日時 2020年6月26日(金) 16:00~17:00
開催内容 TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析
費用 無料
空席 定員 200
申し込み 受付終了


セミナー内容

第1回 TESCAN社製XeプラズマFIB-SEMの紹介 

  • TESCAN社の製品ラインアップの紹介
  • XeプラズマFIB-SEMの特長(Gaフリー、高速断面加工)
  • XeプラズマFIB-SEMによる加工・観察事例の紹介

第2回  TOF-SIMS及びRamanを搭載したFIB-SEMによるマルチモーダル解析

  • FIBを一次イオン源としたTOF-SIMS分析
  • SEM/FIB-SEMと共焦点ラマン顕微鏡のインデグレ―ション

※本セミナーはオンラインセミナー形式で行います。
 お申し込みの方に、開催日の3日前までにURLとパスコードをお送りいたします。
 なお、申込完了後に受付メールが10分以内に届かない場合はお手数ですが下記お問い合わせ先までご連絡ください。

 オンラインセミナーご参加までの流れ


お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ ライフサイエンス&マテリアルズ 担当:鈴木、出口
電話:03-3245-1351、FAX:03-3246-0645
Email:bunseki@toyo.co.jp