オンライン展示会

　実用顕微評価技術セミナー2021

開催日時

2021年7月14日

オンライン開催

    オンライン（CISCO Webex使用予定）

実用顕微評価技術セミナー2021に出展します。ぜひ弊社のバーチャルブースにお立ち寄りください。
実用顕微評価技術セミナー2021の公式ページはコチラ
　


出展製品

  • TESCAN社　電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)
    • SOLARIS X/AMBER X　プラズマFIB-SEMシステム
    • SOLARIS/AMBER　Ga FIB-SEMシステム
    • MAGNA/CLARA/MIRA/VEGA　走査型電子顕微鏡システム
    • RISE　SEM-ラマン複合システム
    • ToF-SIMS分析オプション　FIBを一次イオン源としたSIMSによる微量元素・軽元素分析

  • NenoVision社　LiteScope　SEM/FIB-SEMに搭載可能な原子間力顕微鏡
    • 同一箇所のSEMイメージングとAFMイメージングが同時かつ同環境下で実現
    • AFMによる微細な凹凸情報や物性情報を、SEM像に重ね合わせ可能
    • SEM イメージングにより関心領域への正確なAFM 探針のアプローチ
    • ユーザーフレンドリーな操作、容易なSEM へのインテグレーション

ショートプレゼンテーション

  • 題目　　AFM-in-SEM　走査電子顕微鏡と原子間力顕微鏡を組み合わせた新しい相関分析技術
  • 演者　　東陽テクニカ　ライフサイエンス＆マテリアルズ　出口匡

お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ　ライフサイエンス＆マテリアルズ
TEL:03-3245-1351
Email:bunseki@toyo.co.jp