ナノイメージング
IR情報 会社情報

>20nm~100nm

  • OPUSバイオAFM用Au両面コートプローブ
    1

    OPUSバイオAFM用Au両面コートプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS ライフサイエンス用Au両面コートプローブシリーズは、生物学的応用、探針機能化およびカスタムアプリケーションに最適です。
    カンチレバーおよび探針全体の金コートによって、大気中・溶液中・腐食性化学物質のある環境において光源の反射率が向上および安定することはもちろん、化学的に不活性で、導電性が確保されています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    標準プローブから高速ACモードイメージング用まで幅広いラインナップをご用意しています。

  • EFMプローブ
    1

    EFMプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。

  • Ptプローブ
    1

    Ptプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。
     

  • Arrow/ATECPtプローブ 
    1

    Arrow/ATECPtプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端がカンチレバー先端より突出し、直上からチップの先端を観察可能。チップ先端を視認する必要があるアプリケーション(プロービング等)に利用可能。

  • 磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 
    1

    磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 
    NanoWorld AG

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。幅広いアプリケーションに対応するため、各種磁性膜(強磁性・軟磁性・低モーメント)を取り揃えています。

  • 磁気力顕微鏡用 高Q値 プローブ 
    1

    磁気力顕微鏡用 高Q値 プローブ 
    NANOSENSORS

    真空環境下でも高Q値を実現したMFM(磁気力顕微鏡)用プローブです。高感度と良好なS/N比を実現しました。

  • OPUS電気力AFM用プローブ
    1

    OPUS電気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    ACモードを用いる電気力顕微鏡(EFM)、ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)などの電気特性測定用のプローブです。
    カンチレバー及び探針全体の白金コートによって、高い電気導電性と光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • OPUS磁気力AFM用プローブ
    1

    OPUS磁気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。
    探針側の硬質磁性材料コートによって、高磁気力感度と高分解能を確保しています。 カンチレバー背面のAlコートは、光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • Au両面コートプローブ 
    1

    Au両面コートプローブ 
    NANOSENSORS

    Au両面コートプローブシリーズは、PointProbePlusシリーズのカンチレバー全体にAu/Cr反射膜をコートしています。化学的に安定なため、液中測定でのダメージを抑えられます。また、チップにチオールをベースとした化学修飾を行い、バイオアプリケーションでの相互作用測定に利用されます。

  • ナノインデンテーション用Ballチップ 
    1

    ナノインデンテーション用Ballチップ 
    nanotools GmbH

    チップ先端に対称性の高い球状のHDCを成長させたプローブです。主にナノインデンテーション用に使用されます。20nm~500nmまで幅広いラインアップを揃えています。

  • ラウンドチップ 
    1

    ラウンドチップ 
    NANOSENSORS

    力学測定に用いることができるプローブです。先端径が通常のプローブより大きくなっており、凝着力や付着力の計算がしやすくなっています。特別開発品です。

  • 3Dメトロロジーチップ 
    1

    3Dメトロロジーチップ 
    nanotools GmbH

    サイドウォールの粗さや傾斜角度、トレンチの深さ、ステップ高さを測定するためのチップです。ナノツールズ社のEBD技術により、高精度なアンダーカット形状のHDCチップが製作されています。
     

PAGE TOP

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。