ナノイメージング
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標準サンプル

  • X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 
    1

    X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 
    NanoWorld AG

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

  • X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 
    1

    X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 
    NanoWorld AG

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

  • 高さ校正用サンプル 
    1

    高さ校正用サンプル 
    NanoWorld AG

    高さ(Z)を校正するためのサンプルです。

  • 平坦度校正用サンプル 
    1

    平坦度校正用サンプル 
    NanoWorld AG

    SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

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