ナノイメージング
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100kHz前後(90~130kHz)

  • OPUS標準・ソフトタイプAFM用SIプローブ
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    OPUS標準・ソフトタイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS-200ACシリーズは、大気中でお使いいただける標準およびソフトサンプル向けのACモード用プローブです。
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    カンチレバー背面のAl反射コートにより、レーザ反射率が向上します。

  • OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    4XCーGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ2種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:ソフトサンプルへのACモード用
    カンチレバーC:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーD:高速スキャン用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    3XCシリーズは、3種類のカンチレバーが、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーC:ソフトサンプルへのACモード用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • スーパーシャープ・シリコン(SSS)プローブ
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    スーパーシャープ・シリコン(SSS)プローブ
    NANOSENSORS

    PointProbePlusシリーズの先端をさらに先鋭化し、先端曲率半径が2nm(5nm未満を保証)のプローブです。ナノ構造およびマイクロラフネスの解像度を高める、世界で最もシャープなAFMプローブです。フォースモジュレーション、タッピングモード、ノンコンタクトモード測定に使用可能なラインナップを取り揃えています。

  • SEIHプローブ
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    SEIHプローブ 
    NanoWorld AG

    SEIHは、旧SII社製の300kHz帯の高共振周波数に対応していないタイプの装置向けにデザインされたプローブです。DFM(ダイナミックフォースモード)測定に適しています。

  • 導電性ダイヤモンドコートプローブ
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    導電性ダイヤモンドコートプローブ 
    NanoWorld AG

    導電性を持たせたダイヤモンドをコーティングし、スキャンによる磨耗と高電流による膜破壊を低減させています。強い接触力やμAレベルの電流を流す必要があるアプリケーションに対応します。

  • ダイヤモンドコートプローブ 
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    ダイヤモンドコートプローブ 
    NanoWorld AG

    チップにダイヤモンドコートを施し、耐久性を上げたプローブです。バネ定数が高く、サンプルに強い力をかけたスクラッチ試験などに向いています。

  • Uniqprobe 
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    Uniqprobe 
    NANOSENSORS

    uniqprobeはカンチレバーの共振周波数やバネ定数のバラツキが他のプローブに比べて格段に小さいという特長をもっています。そのため、繰り返し実験を行う際には非常に有効です。
    またカンチレバーの自然なそりやたわみが小さく、ドリフトによるカンチレバーの曲がりが非常に小さいため液中測定に最適なプローブです。

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