ナノイメージング
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PtIr5

NanoWorld社では、特殊なアプリケーションに応じて、コーティングを施したプローブを提供しています。
PtIr5コート CrとPtIr5からなる25nmの2層膜。  用途:電気測定(電気力顕微鏡,電流測定等)
PtSiコート シリサイド化したチップ。20nm程度の曲率半径。 用途:電気測定(電気力顕微鏡,電流測定等)
Auコート CrとAuからなる70nmの2層膜。  用途:化学修飾を利用した測定・バイオアプリケーション
磁性膜コート 強磁性および軟磁性膜をコート。  用途:磁気力顕微鏡
ダイヤモンドコート 100nmの多結晶ダイヤモンド。  用途:耐磨耗性が要求される測定
導電ダイヤモンドコート 100nmの多結晶ダイヤモンドに不純物ドープ。 用途:耐磨耗性が要求される電気測定およびμA以上の電流測定
 
  • EFMプローブ
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    EFMプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。

  • Ptプローブ
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    Ptプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。
     

  • Arrow/ATECPtプローブ 
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    Arrow/ATECPtプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端がカンチレバー先端より突出し、直上からチップの先端を観察可能。チップ先端を視認する必要があるアプリケーション(プロービング等)に利用可能。

  • OPUS電気力AFM用プローブ
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    OPUS電気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    ACモードを用いる電気力顕微鏡(EFM)、ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)などの電気特性測定用のプローブです。
    カンチレバー及び探針全体の白金コートによって、高い電気導電性と光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • 電気測定用プリマウントプローブ 
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    電気測定用プリマウントプローブ 

    Pacific Nanotechnogy社(PNI社)のAFM/SPMで使用するためのプローブです。ステンレスの板に予め固定され、配線が施されています。

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