ナノイメージング
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電気測定

  • EFMプローブ
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    EFMプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。

  • Ptプローブ
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    Ptプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。
     

  • Arrow/ATECPtプローブ 
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    Arrow/ATECPtプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端がカンチレバー先端より突出し、直上からチップの先端を観察可能。チップ先端を視認する必要があるアプリケーション(プロービング等)に利用可能。

  • 導電性ダイヤモンドコートプローブ
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    導電性ダイヤモンドコートプローブ 
    NanoWorld AG

    導電性を持たせたダイヤモンドをコーティングし、スキャンによる磨耗と高電流による膜破壊を低減させています。強い接触力やμAレベルの電流を流す必要があるアプリケーションに対応します。

  • PtSiプローブ
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    PtSiプローブ 
    NANOSENSORS

    白金コートのもつ導電性とダイヤモンドコートのもつ耐摩耗性を両立させた新しい電気測定用プローブです。先端曲率半径が小さいので、より高分解能なイメージングが可能です。
     

  • OPUS電気力AFM用プローブ
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    OPUS電気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    ACモードを用いる電気力顕微鏡(EFM)、ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)などの電気特性測定用のプローブです。
    カンチレバー及び探針全体の白金コートによって、高い電気導電性と光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • 電気測定用プリマウントプローブ 
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    電気測定用プリマウントプローブ 

    Pacific Nanotechnogy社(PNI社)のAFM/SPMで使用するためのプローブです。ステンレスの板に予め固定され、配線が施されています。

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