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    アライメントチップ 

    NanoWorld AG

    アライメントチップ 

    このアライメントチップとX-Yアライメントに対応したプローブを同時に使用することで、長さの異なるカンチレバーをSPMにセットした場合でも、チップ部先端の位置がほぼ同じ位置にセットされます。プローブ交換後も、レーザー位置調整に費やす時間を大幅に短縮させることができます。対応したプローブのホルダー部には、アライメント用の溝が形成されています。

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    X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 

    NanoWorld AG

    X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

    2018年4月1日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせていただきます。

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    X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 

    NanoWorld AG

    X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

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    高さ校正用サンプル 

    NanoWorld AG

    高さ校正用サンプル 

    高さ(Z)を校正するためのサンプルです。

    2019年9月9日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせて頂きます。

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    平坦度校正用サンプル 

    NanoWorld AG

    平坦度校正用サンプル 

    SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

    2019年9月9日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせていただきます。
     

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    1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)

    NANOSENSORS

    1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)

    新製品

    MSSは、国立研究開発法人物質・材料研究機構(以下 NIMS)国際ナノアーキテクトニクス研究拠点の吉川元起グループリーダーが考案・主要国特許を取得したものです。NanoWorld社がNIMSから特許ライセンス契約を受け、独自のMEMS技術を用い、1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)を開発、MSSを用いた各種センシング技術にご関心を持つ研究者の方々に、身近にお使いいただける研究ツールとしてご提供いたします。

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    MSS-8RM 実験用モジュール

    NANOSENSORS

    MSS-8RM 実験用モジュール

    新製品

    嗅覚センサーの実現には、ニオイに対する反応を人や機械が理解できる情報に変換することが重要です。また、複雑なニオイを測定する場合には、感応膜の異なるセンサーを複数用意し、それぞれのニオイに固有の波形を取得・解析することが求められます。
    MSS-8RM 実験用モジュールは、1チャンネル型 膜型表面応力センサー「SD-MSSシリーズ」を最大8つまで搭載できます。2つのガスポンプ・温度・湿度センサーを備え、基準ガスと被測定ガスを交互にモジュールへと送り込みながら、複数の感応膜の評価を、同一環境で同時に評価できるため、効率的な評価が可能です。

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    超薄膜ヤング率測定システム LAWave

    Fraunhofer IWS Dresden

    超薄膜ヤング率測定システム LAWave

    ドイツ Fraunhofer研究所製のLAWaveシステムは、SAW(表面弾性波)法を用いた超薄膜ヤング率測定システムで、5nm厚のDLC膜のヤング率測定も可能です。

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    T150 引っ張り試験システム

    KLA Corporation

    T150 引っ張り試験システム

    T150 引っ張り試験システムは、従来の試験機では困難だったファイバーや薄膜に対しての、再現性の良い引っ張り試験が可能です

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    薄膜硬度計 iMicro-A

    KLA Corporation

    薄膜硬度計 iMicro-A

    マイクロビッカースでは測定困難な薄膜の硬度測定を行うために設計され、マイクロビッカースとナノインデンターの間の領域を埋め合わせることができる、新しいレンジの硬度計です。

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