NanoWorld AG
ACモード・超高共振周波数用の、カンチレバー長が非常に短いタイプです。
nanotools GmbH
一般のAFMからインラインプロセス用自動測定AFMまで使用可能な超高アスペクト比プローブです。FIBシリコンAFMプローブの高性能代替品として、精密に加工された高密度カーボンの先端形状と高耐久性により、深い溝のプロファイルの連続測定が可能です。個々のプローブの品質を100%保証し、NISTトレーサブルSEM測定によるプローブ特性値データシートが提供されます。
一般のAFMからインラインプロセス用自動測定AFMまで使用可能な高アスペクト比HDC/DLCプローブです。セラミクスやフォトマスク用アプリケーションではより高度な静電気対策(ESD)が必要とされるためチップ先端に導電性コートを施したタイプもございます。 個々のプローブの品質を100%保証し、NISTトレーサブルSEM測定によるプローブ特性値データシートが提供されます。
高アスペクト比でありながらスーパーシャープな先端曲率半径をもつ、一般のAFMからインラインプロセス用自動測定AFMまで使用可能なHDC/DLCプローブです。個々のプローブの品質を100%保証し、NISTトレーサブルSEM測定によるプローブ特性値データシートが提供されます。
カーボンナノチューブで問題となるチューブの取付け角度やチューブの長さ・太さのバラツキを解決したチップです。CNTはCarbon Nano Tipの略です。
サイドウォールの粗さや傾斜角度、トレンチの深さ、ステップ高さを測定するためのチップです。ナノツールズ社のEBD技術により、高精度なアンダーカット形状のHDCチップが製作されています。
研究向けにお求めやすい価格で、しかも長期にわたる信頼性の高い、高分解能測定を行うためのHDC/DLCプローブです。
ライフサイエンスでよく使用されるSiNプローブにHDCチップを成長させたチップです。HDCは疎水性で化学的に安定なため、バッファー溶液中でも安定して使用可能です。
プローブを貯蔵するための GelPak(R)ボックス と ピンセット のセットです。
静電気によるチップの破損を防止します。
このアライメントチップとX-Yアライメントに対応したプローブを同時に使用することで、長さの異なるカンチレバーをSPMにセットした場合でも、チップ部先端の位置がほぼ同じ位置にセットされます。プローブ交換後も、レーザー位置調整に費やす時間を大幅に短縮させることができます。対応したプローブのホルダー部には、アライメント用の溝が形成されています。
KLA Corporation
T150 引っ張り試験システムは、従来の試験機では困難だったファイバーや薄膜に対しての、再現性の良い引っ張り試験が可能です
Fraunhofer IWS Dresden
ドイツ Fraunhofer研究所製のLAWaveシステムは、SAW(表面弾性波)法を用いた超薄膜ヤング率測定システムで、5nm厚のDLC膜のヤング率測定も可能です。
マイクロビッカースでは測定困難な薄膜の硬度測定を行うために設計され、マイクロビッカースとナノインデンターの間の領域を埋め合わせることができる、新しいレンジの硬度計です。
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