ナノイメージング
IR情報 会社情報
  • SEIHプローブ
    1

    SEIHプローブ 
    NanoWorld AG

    SEIHは、旧SII社製の300kHz帯の高共振周波数に対応していないタイプの装置向けにデザインされたプローブです。DFM(ダイナミックフォースモード)測定に適しています。

  • XYアライメント対応プローブ 
    1

    XYアライメント対応プローブ 
    NANOSENSORS

    X-Yアライメントに対応したプローブは、アライメントチップと同時に使用する事で、長さの異なるプローブをSPMにセットした場合でもチップ先端の位置がほぼ同じ位置にセット可能です。

  • チップ反転プローブ 
    1

    チップ反転プローブ  
    NANOSENSORS

    チップ反転プローブは、探針の前後の角度がほぼ対称になるように、従来の探針の向きを180°回転した状態で取り付けています。探針先端から200nmまでのハーフコーンアングルは10°以下で、イメージの対称性が重要となる測定で威力を発揮します。
    タッピングモード、フォースモジュレーション、コンタクトモード用の3種のラインナップをご用意しています。

  • 形状測定用 高Q値 プローブ 
    1

    形状測定用 高Q値 プローブ  
    NANOSENSORS

    超高真空(UHV)環境下において使用する高Q値プローブです。35000以上の高いQ値を有し、カンチレバー背面のAl反射膜によって反射率と信号対雑音比(SN比)が向上しています。典型的な先端曲率半径が7nm未満で、かつ再現性も高いPointProbePlusシリーズをベースプローブとしています。

  • スーパーシャープエンハンスド(SSE)プローブ
    1

    スーパーシャープエンハンスド(SSE)プローブ
    nanotools GmbH

    先端曲率半径を2nmまで小さくし、高分解能と耐摩耗性を両立したプローブです。
    シリコン酸化膜・窒化膜・ポリシリコンなどの高分解能観察、CMP後の化学的に活性な表面の観察、プローブ先端が磨耗しやすいハードマテリアルの連続測定などに適したプローブです。

  • EFMプローブ
    1

    EFMプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。

  • Ptプローブ
    1

    Ptプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。
     

  • Arrow/ATECPtプローブ 
    1

    Arrow/ATECPtプローブ 
    NanoWorld AG

    チップ先端がカンチレバー先端より突出し、直上からチップの先端を観察可能。チップ先端を視認する必要があるアプリケーション(プロービング等)に利用可能。

  • 導電性ダイヤモンドコートプローブ
    1

    導電性ダイヤモンドコートプローブ 
    NanoWorld AG

    導電性を持たせたダイヤモンドをコーティングし、スキャンによる磨耗と高電流による膜破壊を低減させています。強い接触力やμAレベルの電流を流す必要があるアプリケーションに対応します。

  • PtSiプローブ
    1

    PtSiプローブ 
    NANOSENSORS

    白金コートのもつ導電性とダイヤモンドコートのもつ耐摩耗性を両立させた新しい電気測定用プローブです。先端曲率半径が小さいので、より高分解能なイメージングが可能です。
     

  • 磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 
    1

    磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 
    NanoWorld AG

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。幅広いアプリケーションに対応するため、各種磁性膜(強磁性・軟磁性・低モーメント)を取り揃えています。

  • 磁気力顕微鏡用 高Q値 プローブ 
    1

    磁気力顕微鏡用 高Q値 プローブ 
    NANOSENSORS

    真空環境下でも高Q値を実現したMFM(磁気力顕微鏡)用プローブです。高感度と良好なS/N比を実現しました。

  • ダイヤモンドコートプローブ 
    1

    ダイヤモンドコートプローブ 
    NanoWorld AG

    チップにダイヤモンドコートを施し、耐久性を上げたプローブです。バネ定数が高く、サンプルに強い力をかけたスクラッチ試験などに向いています。

  • OPUS電気力AFM用プローブ
    1

    OPUS電気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    ACモードを用いる電気力顕微鏡(EFM)、ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)などの電気特性測定用のプローブです。
    カンチレバー及び探針全体の白金コートによって、高い電気導電性と光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • OPUS磁気力AFM用プローブ
    1

    OPUS磁気力AFM用プローブ
    OPUS by μmasch®

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。
    探針側の硬質磁性材料コートによって、高磁気力感度と高分解能を確保しています。 カンチレバー背面のAlコートは、光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • Au両面コートプローブ 
    1

    Au両面コートプローブ 
    NANOSENSORS

    Au両面コートプローブシリーズは、PointProbePlusシリーズのカンチレバー全体にAu/Cr反射膜をコートしています。化学的に安定なため、液中測定でのダメージを抑えられます。また、チップにチオールをベースとした化学修飾を行い、バイオアプリケーションでの相互作用測定に利用されます。

  • Au背面コートプローブ 
    1

    Au背面コートプローブ 
    NANOSENSORS

    Au背面コートプローブシリーズは、PointProbePlusシリーズのカンチレバー背面側にAu/Cr反射膜をコートして、レーザ光の反射を高めています。
    Auは化学的に不活性なため、液中測定においても安定してお使いいただけます。

  • 新製品

    PeakForce・ScanAsyst用Uniqprobe 
    1

    Uniqprobe-HBC
    NANOSENSORS

    uniqprobeはカンチレバーの共振周波数やバネ定数のバラツキが他のプローブに比べて格段に小さいという特長をもっています。そのため、繰り返し実験を行う際には非常に有効です。
    uniqprobe-HBCはBruker社のScanAsyst®またはPeakForceTapping™(大気中)で用いることが可能です。

  • Uniqprobe 
    1

    Uniqprobe 
    NANOSENSORS

    uniqprobeはカンチレバーの共振周波数やバネ定数のバラツキが他のプローブに比べて格段に小さいという特長をもっています。そのため、繰り返し実験を行う際には非常に有効です。
    またカンチレバーの自然なそりやたわみが小さく、ドリフトによるカンチレバーの曲がりが非常に小さいため液中測定に最適なプローブです。

  • プラトーチップ 
    1

    プラトーチップ 
    NANOSENSORS

    プラトーチップシリーズは、チップの先端部を平坦状に加工しています。ご要望によって平坦部の大きさを特注することが可能です。

PAGE TOP

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。