電子顕微鏡組込み型表面物性計測装置

In-SEM ナノインデンター

KLA Corporation

In-SEM型ナノインデンターシステムは、電子顕微鏡(FIB-SEM、SEM)と組み合わせることにより、サンプルの微小領域における機械特性情報を、サンプルの変形・破壊挙動のライブイメージと併せて取得が可能となります。最高800℃までの加熱試験や電気信号測定も可能です。

In-SEM AFM

NenoVision s.r.o.

新製品

LiteScopeは走査電子顕微鏡(SEM)に容易に統合できるように設計された原子間力顕微鏡（AFM）で、AFMとSEMを組み合わせた新しい相関分析技術を提供します。

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。