標準

NCHプローブ

NCHシリーズはノンコンタクトやタッピングモードでのイメージング用プローブで、優れた感度および高速スキャン能力と高い操作安定性を兼ね備えています。標準のプローブの中では、最も高い共振周波数（ティピカル値　320kHz）をもちます。

「NCH-10T」は諸般事情により2019年3月19日（火）までの販売とさせていただきます。
お客様にはご迷惑をおかけし誠に申し訳ございませんが、何卒ご理解を賜りますようお願い申し上げます。
2019年3月20日（水）以降は「NCH-10」をご検討くださいますようお願い申し上げます。

OPUS標準AFM用SIプローブ

OPUS by μmasch®

OPUS-160ACシリーズは大気中　標準ACモード用プローブです。
先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
金属コート無(OPUS-160AC-NN)／Al反射コート(OPUS-160AC-NA)／Au反射コート（OPUS-160AC-NG）のタイプがあります。

NCLプローブ

NCLシリーズは、装置のフィードバックループが高い周波数に対応していない場合や、光検出器システムがカンチレバー長さに制約を受ける場合にNCHシリーズの代用品として推奨されるタイプです。高い操作安定性と優れた感度を兼ね備えています。NCHシリーズよりも共振周波数が低いため、最大走査速度はわずかに減少します。

NCST(ソフトタップ)プローブ　

NCST シリーズは、ノンコンタクトまたはソフトタッピングモードイメージング用に設計されています。
比較的柔らかいカンチレバーで、共振周波数は160kHzと高めのため、試料と探針間の相互作用を少なくした状態で安定して速いスキャンを行うことが可能になります。脆弱で吸着の大きな試料の測定で効果を発揮します。

OPUS標準・ソフトタイプAFM用SIプローブ

OPUS by μmasch®

OPUS-200ACシリーズは、大気中でお使いいただける標準およびソフトサンプル向けのACモード用プローブです。
先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
カンチレバー背面のAl反射コートにより、レーザ反射率が向上します。

OPUSソフトタイプAFM用SIプローブ

OPUS by μmasch®

OPUS-240ACシリーズはソフトサンプル向けACモード用プローブです。
先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
金属コート無(OPUS-240AC-NN)／Al反射コート(OPUS-240AC-NA)のタイプがあります。

FM(フォースモジュレーション)プローブ　

FMシリーズは、粘弾性・凝着・摩擦などのサンプル表面の機械的特性を評価するフォースモジュレーション測定用に設計されています。カンチレバーのバネ定数が、コンタクトモード用（CONTシリーズ）とタッピングモード用（NCH、NCL、NCSTシリーズ）のギャップを埋める柔らかさなので、両方の測定モードに使用することも可能です。

CONT(ロングレバー)プローブ　

CONT(ロングレバー)シリーズは、コンタクトモードでの測定用に設計されています。0.2N/mと低いバネ定数により高感度にフォースカーブやPFM（パルスフォースモード）測定を行います。

CONTSC/LFM(ショートレバー)プローブ　

CONTSC/LFMシリーズは、コンタクトモードのアプリケーションである水平力（LFM）や摩擦力（FFM）測定でお使い頂けるプローブです。コンタクトモードからノンコンタクトモードへのプローブ交換を容易に行う必要のあるAFM装置のためにカンチレバーの長さを225μmと短くしてあります。

OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ

OPUS by μmasch®

4XCｰGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ２種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。
カンチレバーA：コンタクトモード用
カンチレバーB：ソフトサンプルへのACモード用
カンチレバーC：標準ACモードイメージング用
カンチレバーD：高速スキャン用
先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

OPUS３レバータイプAFM用SIプローブ

OPUS by μmasch®

３XCシリーズは、３種類のカンチレバーが、さまざまな測定モードに対応します。
カンチレバーA：コンタクトモード用
カンチレバーB：標準ACモードイメージング用
カンチレバーC：ソフトサンプルへのACモード用
先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

SEIHプローブ

SEIHは、旧SII社製の300kHz帯の高共振周波数に対応していないタイプの装置向けにデザインされたプローブです。DFM（ダイナミックフォースモード）測定に適しています。

XYアライメント対応プローブ　

X-Yアライメントに対応したプローブは、アライメントチップと同時に使用する事で、長さの異なるプローブをSPMにセットした場合でもチップ先端の位置がほぼ同じ位置にセット可能です。

チップ反転プローブ　

チップ反転プローブは、探針の前後の角度がほぼ対称になるように、従来の探針の向きを180°回転した状態で取り付けています。探針先端から200nmまでのハーフコーンアングルは10°以下で、イメージの対称性が重要となる測定で威力を発揮します。
タッピングモード、フォースモジュレーション、コンタクトモード用の3種のラインナップをご用意しています。

形状測定用高Q値プローブ　

超高真空（UHV）環境下において使用する高Q値プローブです。35000以上の高いQ値を有し、カンチレバー背面のAl反射膜によって反射率と信号対雑音比（SN比）が向上しています。典型的な先端曲率半径が7nm未満で、かつ再現性も高いPointProbePlusシリーズをベースプローブとしています。

Au背面コートプローブ　

Au背面コートプローブシリーズは、PointProbePlusシリーズのカンチレバー背面側にAu/Cr反射膜をコートして、レーザ光の反射を高めています。
Auは化学的に不活性なため、液中測定においても安定してお使いいただけます。

形状測定用プリマウントプローブ　

Pacific Nanotechnogy社(PNI社)のAFM/SPMで使用するためのプローブです。ステンレスの板に予め固定されています。

2020年1月末日をもちまして、プリマウントAFMプローブの販売を終了させていただくこととなりました。
お客様各位には大変ご迷惑をおかけいたしますが、なにとぞご理解を賜りますようお願い申し上げます。

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