ナノイメージング
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  • iNano 高分解能 薄膜機械的特性評価装置
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    iNano 超高分解能 薄膜機械的特性評価装置
    KLA Corporation

    iNanoは、極低荷重を高精度かつ安定に発生させるInForce50型押込みヘッドを搭載、ナノメートルオーダーの薄膜や樹脂などのソフトマテリアルの薄膜の硬度・ヤング率を測定できます。さらに動的押込み試験による硬度・ヤング率の深さプロファイル測定やナノスケールの動的粘弾性測定、硬度・ヤング率の3次元イメージングなど、多機能な薄膜機械特性評価装置です。

  • デモ・受託分析対応

    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
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    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
    KLA Corporation

    iMicro 薄膜機械的特性評価装置は、最大1N(約100gf)の荷重を発生できる、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、新しいレンジのナノインデンターです。InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

  • メーカー協賛プロモーション商品

    Arrowプローブ
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    Arrowプローブ 
    NanoWorld AG

    矢印形状のカンチレバー先端にプローブを形成していますので、狙った測定場所へのアプローチを容易に行うことができます。高解像度イメージングにも使える高品質プローブです。
    ・高解像イメージング用Si単結晶プローブ
    ・背面から探針の位置がわかる優れたデザイン
    ・反射コート有、無の両方のパッケージをご用意

  • デモ・受託分析 対応

    Nano Indenter G200
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    Nano Indenter G200
    KLA Corporation

    Nano Indenter G200は、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来困難であったサブミクロン厚の薄膜まで硬度・ヤング率評価を高精度で測定可能です。計装化押し込み試験の規格、ISO14577-1,2,3 に完全準拠した、まさに標準機と評価される製品です。高速インデンテーションを用いた硬さ・ヤング率の2次元定量イメージングにも対応します。

  • Xe プラズマ FIB-SEMシステム AMBER X
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    Xe プラズマ FIB-SEMシステム 【AMBER X】
    TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.

    TESCAN社の最新鋭AMBER Xは、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
    パワー半導体やリチウムイオン電池、ソフトマテリアル、磁気材料など多種多様な素材に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、ToF-SIMS、ラマンといったマルチモーダルイメージングをフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現しました。

  • XeプラズマFIB-SEMシステム【S9000X/S8000X】
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    XeプラズマFIB-SEMシステム【S9000X/S8000X】
    TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.

    新型XeプラズマFIBカラム(iFIB+)を有する最新型FIB-SEMです。従来のGaイオンFIBに比べて50倍以上のミリングレートを有し、ダメージレスでmmオーダーの大容量加工を実現します。
    Gaに比べてイオン注入や加工面のアモルファス化の影響が少ないため、TEM試料作製にも最適で、大容量3Dイメージングやリチウム検出可能なTOF-SIMSオプションなど、様々なアプリケーションに対応します。

  • NanoFlip 顕微鏡組み込み型ナノインデンター
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    NanoFlip 顕微鏡組み込み型ナノインデンター
    KLA Corporation

    NanoFlipは各種光学顕微鏡やAFMなどの既存のイメージング装置に搭載して、イメージング&機械特性評価を実現する新しいタイプのナノインデンターです。

  • 超解像蛍光イメージ取得モジュール CODIM100
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    超解像蛍光イメージ取得モジュール CODIM100
    BioAxial

    仏国バイオアキシャル社は、円錐回折を用いた世界で唯一の独自顕微鏡技術を搭載した「CODIM100 超解像顕微鏡モジュール」を開発しました。「CODIM100」は、一般的な共焦点蛍光顕微鏡に取り付けるだけで100nm以下の解像度を達成する超解像顕微鏡に変えるモジュールです。しかも、生体に照射する光の強度が一般的な共焦点蛍光顕微鏡と同等以下で済むため、超解像顕微鏡で課題となっている光毒性による影響を大幅に軽減することができます。また、蛍光試薬の褪色も抑えるため、共焦点蛍光顕微鏡などで既に使用している蛍光試薬を用いて、長時間かつ高時間分解能のタイムラプス測定を行うことができます。

  • OPUSバイオAFM用Au背面コートプローブ
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    OPUSバイオAFM用Au背面コートプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS ライフサイエンス用Au背面コートプローブシリーズは、大気中・溶液中・腐食性化学物質のある環境において光源の反射率を向上および安定させます。
    探針側は金属コートのないタイプであり、先鋭な先端、化学的不活性、高Q値を提供しています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。 標準プローブから高速ACモードイメージング用まで幅広いラインナップをご用意しています。

  • OPUSウルトラ・シャープ・プローブ
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    OPUSウルトラ・シャープ・プローブ
    OPUS by μmasch®

    ACモード高分解能イメージング用で、先端に鋭いダイヤモンド状スパイクをもつプローブです。
    両面金コートタイプで、大気中と溶液中のどちらでも安定したレーザー反射率をもたらします。四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。
    これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    カンチレバーと探針側は両方とも金がコートされていますが、ダイヤモンド上スパイク部はコートされていません。

  • NCHプローブ
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    NCHプローブ 
    NanoWorld AG

    NCHシリーズはノンコンタクトやタッピングモードでのイメージング用プローブで、優れた感度および高速スキャン能力と高い操作安定性を兼ね備えています。標準のプローブの中では、最も高い共振周波数(ティピカル値 320kHz)をもちます。

    「NCH-10T」は諸般事情により3月19日(火)までの販売とさせていただきます。
    お客様にはご迷惑をおかけし誠に申し訳ございませんが、何卒ご理解を賜りますようお願い申し上げます。
    3月20日(水)以降は「NCH-10」をご検討くださいますようお願い申し上げます。

     

  • OPUS標準AFM用SIプローブ
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    OPUS標準AFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS-160ACシリーズは大気中 標準ACモード用プローブです。
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    金属コート無(OPUS-160AC-NN)/Al反射コート(OPUS-160AC-NA)/Au反射コート(OPUS-160AC-NG)のタイプがあります。

  • NCLプローブ
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    NCLプローブ 
    NanoWorld AG

    NCLシリーズは、装置のフィードバックループが高い周波数に対応していない場合や、光検出器システムがカンチレバー長さに制約を受ける場合にNCHシリーズの代用品として推奨されるタイプです。高い操作安定性と優れた感度を兼ね備えています。NCHシリーズよりも共振周波数が低いため、最大走査速度はわずかに減少します。

  • OPUS標準・ソフトタイプAFM用SIプローブ
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    OPUS標準・ソフトタイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS-200ACシリーズは、大気中でお使いいただける標準およびソフトサンプル向けのACモード用プローブです。
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    カンチレバー背面のAl反射コートにより、レーザ反射率が向上します。

  • NCST(ソフトタップ)プローブ 
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    NCST(ソフトタップ)プローブ 
    NanoWorld AG

    NCST シリーズは、ノンコンタクトまたはソフトタッピングモードイメージング用に設計されています。
    比較的柔らかいカンチレバーで、共振周波数は160kHzと高めのため、試料と探針間の相互作用を少なくした状態で安定して速いスキャンを行うことが可能になります。脆弱で吸着の大きな試料の測定で効果を発揮します。

  • OPUSソフトタイプAFM用SIプローブ
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    OPUSソフトタイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS-240ACシリーズはソフトサンプル向けACモード用プローブです。
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    金属コート無(OPUS-240AC-NN)/Al反射コート(OPUS-240AC-NA)のタイプがあります。

  • FM(フォースモジュレーション)プローブ  
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    FM(フォースモジュレーション)プローブ 
    NanoWorld AG

    FMシリーズは、粘弾性・凝着・摩擦などのサンプル表面の機械的特性を評価するフォースモジュレーション測定用に設計されています。カンチレバーのバネ定数が、コンタクトモード用(CONTシリーズ)とタッピングモード用(NCH、NCL、NCSTシリーズ)のギャップを埋める柔らかさなので、両方の測定モードに使用することも可能です。

  • CONT(ロングレバー)プローブ 
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    CONT(ロングレバー)プローブ 
    NanoWorld AG

    CONT(ロングレバー)シリーズは、コンタクトモードでの測定用に設計されています。0.2N/mと低いバネ定数により高感度にフォースカーブやPFM(パルスフォースモード)測定を行います。

  • OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    4XCーGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ2種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:ソフトサンプルへのACモード用
    カンチレバーC:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーD:高速スキャン用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    3XCシリーズは、3種類のカンチレバーが、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーC:ソフトサンプルへのACモード用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

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