ナノイメージング
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  • 新製品

    1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)
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    1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)
    NANOSENSORS

    MSSは、国立研究開発法人物質・材料研究機構(以下 NIMS)国際ナノアーキテクトニクス研究拠点の吉川元起グループリーダーが考案・主要国特許を取得したものです。NanoWorld社がNIMSから特許ライセンス契約を受け、独自のMEMS技術を用い、1チャンネル型 膜型表面応力センサー(SD-MSSシリーズ)を開発、MSSを用いた各種センシング技術にご関心を持つ研究者の方々に、身近にお使いいただける研究ツールとしてご提供いたします。

  • 新製品

    MSS-8RM 実験用モジュール
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    MSS-8RM 実験用モジュール
    NANOSENSORS

    嗅覚センサーの実現には、ニオイに対する反応を人や機械が理解できる情報に変換することが重要です。また、複雑なニオイを測定する場合には、感応膜の異なるセンサーを複数用意し、それぞれのニオイに固有の波形を取得・解析することが求められます。
    MSS-8RM 実験用モジュールは、1チャンネル型 膜型表面応力センサー「SD-MSSシリーズ」を最大8つまで搭載できます。2つのガスポンプ・温度・湿度センサーを備え、基準ガスと被測定ガスを交互にモジュールへと送り込みながら、複数の感応膜の評価を、同一環境で同時に評価できるため、効率的な評価が可能です。

  • 新製品 デモ対応

    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
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    テーブルトップ原子間力顕微鏡 TT-2 AFM
    AFMWorkshop

    コンパクトなテーブルトップAFM(原子間力顕微鏡)で、低価格ながら光てこ式AFMに求められる重要な機能や利点をすべて有しています。TT-2 AFMには、スキャンに必要となるステージ、制御用回路、プローブ、マニュアル、ビデオ光学顕微鏡のすべてが含まれています。

  • iNano 高分解能 薄膜機械的特性評価装置
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    iNano 超高分解能 薄膜機械的特性評価装置
    Nanomechanics, Inc.

    iNanoは、極低荷重を高精度かつ安定に発生させるInForce50型押込みヘッドを搭載、ナノメートルオーダーの薄膜や樹脂などのソフトマテリアルの薄膜の硬度・ヤング率を測定できます。さらに動的押込み試験による硬度・ヤング率の深さプロファイル測定やナノスケールの動的粘弾性測定、硬度・ヤング率の3次元イメージングなど、多機能な薄膜機械特性評価装置です。

  • デモ・受託分析対応

    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
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    iMicro 高性能 薄膜機械的特性評価装置
    Nanomechanics, Inc.

    iMicro 薄膜機械的特性評価装置は、最大1N(約100gf)の荷重を発生できる、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、新しいレンジのナノインデンターです。InForce1000とInForce50の両ヘッドを付け替え可能で、薄膜の機械特性評価に欠かせない、ダイナミックモードやスクラッチ試験、高速3D/4Dマッピング機能まで幅広い機能を装備可能です。

  • メーカー協賛プロモーション商品

    Arrowプローブ
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    Arrowプローブ 
    NanoWorld AG

    矢印形状のカンチレバー先端にプローブを形成していますので、狙った測定場所へのアプローチを容易に行うことができます。高解像度イメージングにも使える高品質プローブです。
    ・高解像イメージング用Si単結晶プローブ
    ・背面から探針の位置がわかる優れたデザイン
    ・反射コート有、無の両方のパッケージをご用意

  • デモ・受託分析 対応

    Nano Indenter G200
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    Nano Indenter G200

    Nano Indenter G200は、バルク材料やミクロンオーダー厚の薄膜は勿論、従来困難であったサブミクロン厚の薄膜まで硬度・ヤング率評価を高精度で測定可能です。計装化押し込み試験の規格、ISO14577-1,2,3 に完全準拠した、まさに標準機と評価される製品です。高速インデンテーションを用いた硬さ・ヤング率の2次元定量イメージングにも対応します。

  • XeプラズマFIB-SEMシステム【S9000X/S8000X】
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    XeプラズマFIB-SEMシステム【S9000X/S8000X】
    TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.

    新型XeプラズマFIBカラム(iFIB+)を有する最新型FIB-SEMです。従来のGaイオンFIBに比べて50倍以上のミリングレートを有し、ダメージレスでmmオーダーの大容量加工を実現します。
    Gaに比べてイオン注入や加工面のアモルファス化の影響が少ないため、TEM試料作製にも最適で、大容量3Dイメージングやリチウム検出可能なTOF-SIMSオプションなど、様々なアプリケーションに対応します。

  • デモ・受託分析 対応

    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
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    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    MERLINは圧倒的な低加速電圧・高コントラストの機能に加え、さらなる高分解化を実現したFE-SEM です。最大300nA までの大電流オプションも選べ、高分解能観察からEDS、WDS、EBSD 等の分析まで、モード切替を行うことなく実行できます。

  • デモ・受託分析 対応

    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
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    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI SEM シリーズは実績のあるGEMINI レンズを進化させたNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現しました。同時に電子の検出効率を最大で20倍改善することで、微小プローブ電流設定時でも高コントラスト・高分解能観察が可能なため、ビームダメージに弱いサンプルにも最適です。また絶縁材料のEDS/EBSD分析に有用な高分解能低真空モードを有しており、様々な用途に対応しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
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    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI 300は、GEMMINI 500シリーズと同じNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現すると同時に、Carl Zeiss FE-SEMの特徴の一つであるAsB(低角度反射電子検出器)や、低真空条件下での高分解能イメージングを実現するNano-VPなどが装備可能なマルチ・パーパスFE-SEMです。
    コストパフォーマンスもよく、様々な試料に対応しなければならない分析部門に適しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
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    電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    SIGMA(シグマ)500でも、信号分離を可能するGEMINIレンズを採用しています。前シリーズの上位機種に採用されていたIn-lens DUO(エネルギーを選択型in lens BSE)も搭載可能で、コストを抑えつつも、Carl Zeiss FE-SEMの最大の特徴である画像診断が可能となっています。更に、元素分析を高いスループットで実現するための高立体角EDSポートの設計、14個に上るアクセサリーポート数など、観察だけでなく分析も重要視するユーザに適しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 300
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    電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 300
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    SIGMA(シグマ)300にも、信号分離を可能するGEMINIレンズを採用しておいます。コストパフォーマンスを追及しつつも、FE-SEMに求められる機能を最大限活かす設計がなされております。
    搭載可能な試料の重量も、最大5kgと汎用SEMと同じ程度の試料が搭載できます。前面の扉を開放しても数分で真空引きからビームスタンバイ状態になりますので、汎用SEMよりもより詳細な観察・分析が必要と考えている方に適したシステムです。

  • 汎用型走査電子顕微鏡 EVOシリーズ
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    汎用型走査電子顕微鏡 EVOシリーズ
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    EVO(エボ)シリーズは、高性能かつ総合的な柔軟性を備えた汎用型走査電子顕微鏡です。タングステンフィラメントやLaB6ソースなどの電子銃の選択だけでなく、低真空度やチャンバーサイズ、検出器など、ニーズに合わせてカスタマイズすることができます。従来機種に比べて、検出器の感度が大幅に向上し、真空度も最大で3000Paまで対応しているため、環境制御下でも高コントラスト像が取得可能です。搭載可能な試料の重量も、最大5kgと汎用SEMと同じ程度の試料が搭載できます。

  • FIB鏡筒付FE-SEM 【Crossbeam 540】
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    FIB鏡筒付FE-SEM 【Crossbeam 540】
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    Crossbeamシリーズは最大300nA 出力可能なSEM カラムと、72 時間の長時間加工でも安定なFIB カラムとの融合により、様々な3D イメージングを実現します。また、今まで1 日を要していた試料の前処理を、わずか数分で実行可能にするレーザリムーバオプションを搭載可能です。

  • FIB鏡筒付FE-SEM 【Crossbeam 340】
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    FIB鏡筒付FE-SEM 【Crossbeam 340】
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    Crossbeamシリーズは最大100nA 出力可能なSEM カラムと、72 時間の長時間加工でも安定なFIB カラムとの融合により、様々な3D イメージングを実現します。また、今まで1 日を要していた試料の前処理を、わずか数分で実行可能にするレーザリムーバオプションを搭載可能です。

  • NanoFlip 顕微鏡組み込み型ナノインデンター
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    NanoFlip 顕微鏡組み込み型ナノインデンター
    Nanomechanics, Inc.

    NanoFlipは各種光学顕微鏡やAFMなどの既存のイメージング装置に搭載して、イメージング&機械特性評価を実現する新しいタイプのナノインデンターです。

  • MountainsSPIP™8  2019年 リリース
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    MountainsSPIP™8  2019年 リリース
    Image Metorology A/S

    SPIPはMountainsSPIPTM8に生まれ変わります!
    ~SPIPユーザーのお客様は、新しいMountainsSPIPTM8を無料でお使いいただけます~

    SPM画像解析ソフトウェアのスペシャリストであるイメージメトロロジー社と、業界標準のMountainsRプラットフォームを提供しているDigtal Surf社より、2019年に次世代のSPM画像解析ソフトウェアをリリースします。
    MountainsSPIP 8のリリース時にアクティブな保守サービスをお持ちのすべてのSPIPお客様は、この新製品へのアップグレードを無料で受けることができます。お持ちのSPIPの保守期間が満了しているお客様も、この機会にぜひ更新をご検討ください。
     

  • SPIP イメージ解析ソフトウェア
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    SPIP イメージ解析ソフトウェア
    Image Metorology A/S

    イメージメトロロジー社SPIP は、下記の機能を備えるべく改良を重ねてきたイメージ処理ソフトウェアです。
     • 真の表面を最も正確に表現したイメージに仕上げるための補正ツール
     • 高い精度、品質、費用対効果を保証する自動化された解析技術
     • 解析結果を説得力ある印象的な形で伝えるための視覚化レポート作成ツール

  • OPUSバイオAFM用Au両面コートプローブ
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    OPUSバイオAFM用Au両面コートプローブ
    OPUS by μmasch®

    OPUS ライフサイエンス用Au両面コートプローブシリーズは、生物学的応用、探針機能化およびカスタムアプリケーションに最適です。
    カンチレバーおよび探針全体の金コートによって、大気中・溶液中・腐食性化学物質のある環境において光源の反射率が向上および安定することはもちろん、化学的に不活性で、導電性が確保されています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    標準プローブから高速ACモードイメージング用まで幅広いラインナップをご用意しています。

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