TESCAN GROUP, a.s.の製品一覧
TESCAN社のあるチェコ共和国ブルノ市は電子顕微鏡の発祥地として名を馳せています。1940年代に世界初の電子顕微鏡がこの地から生まれ、TESCAN社の前身であるTesla Brno社によって製造が開始されました。約40年に渡り3000台以上のTEM(透過型電子顕微鏡)とSEM(走査型電子顕微鏡)が製造され、東ヨーロッパを中心に研究開発に活用されてきました。
TESCAN社は冷戦終結後の1991年にTesla Brno社の一部のメンバーによって設立、世界各国へ電子顕微鏡の販売を開始し、SEMおよびFIBの世界的サプライヤーへと成長しています。現在では80カ国以上に納入実績があります。最近ではアジア各国への納入台数が増えており、材料開発や半導体といった世界トップレベルの研究を支えています。
Xe プラズマ FIB-SEMシステム SOLARIS X 2
TESCAN社の最新鋭SOLARIS X 2は、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと、イマージョン光学系を装備した超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
TSV(シリコン貫通電極)、MEMS、はんだバンプ、Cu ピラー、BGA の全体構造といった広いスケールの構造をもつ材料や深く埋もれた構造をもつ材料に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、クラス最高の低加速SEM観察能力により高い精度での物理解析が実現します。また、ToF-SIMS、ラマンといった分析技術とのマルチモーダルイメージングが可能です。
Xe プラズマ FIB-SEMシステム AMBER X 2
走査透過電子顕微鏡 TENSOR
Ga FIB-SEMシステム SOLARIS
Ga FIB-SEMシステム AMBER
電界放出形走査電子顕微鏡 MAGNA
自動鉱物粒子解析SEM TIMA
TESCAN社TIMAは、MLAとも呼ばれる自動鉱物粒子解析に特化した最新鋭の走査電子顕微鏡です。最大4つのEDS検出器が装着可能で、その同時取得により高速分析が実現します。ショットキーエミッター搭載の電子銃を採用しているため、微細な鉱物粒子の識別が高い空間分解能で可能です。専用の自動ソフトウエアにより、SEM観察とEDS分析が無人でできるだけでなく、粒子の分離や鉱物種の同定も自動で行うことができます。
選鉱における鉱物試験として非常に有効なツールであるだけでなく、岩石の微細組織解析に代表される地球科学分野の研究や、考古遺物や文化財の鉱物学的研究にも高い能力を発揮します。