TESCAN社製品

TESCAN社製 FIB-SEM / SEMに関するカタログ

Xeプラズマ FIB-SEM SOLARIS X

Xeプラズマ FIB-SEM SOLARIS X

Xeプラズマ FIB-SEM AMBER X

Xeプラズマ FIB-SEM AMBER X

Ga FIB-SEM SOLARIS

Ga FIB-SEM SOLARIS

電界放出形走査電子顕微鏡 MAGNA

電界放出形走査電子顕微鏡 MAGNA

電界放出形走査電子顕微鏡 CLARA

電界放出形走査電子顕微鏡 CLARA

電界放出形走査電子顕微鏡 MIRA

電界放出形走査電子顕微鏡 MIRA

走査電子顕微鏡 VEGA

走査電子顕微鏡 VEGA

FIB-SEM搭載用
ToF-SIMS

FIB-SEM搭載用<br>ToF-SIMS

SEM-ラマン複合装置 RISE

SEM-ラマン複合装置 RISE

In-SEM AFMシステム LiteScope

In-SEM AFMシステム LiteScope

FIB-SEM
トモグラフィー

FIB-SEM<br>トモグラフィー

大容量の断面・試料作成ワークフロー

大容量の断面・試料作成ワークフロー

電子ビーム
リソグラフィー

電子ビーム<br>リソグラフィー

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

-地球惑星科学研究向け-

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

-選鉱の鉱物試験用途-