電気化学測定ラボ
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ハイスループットな電気化学測定評価システム～Part.1 走査型電気化学測定システムの適用～
本稿では、電気化学分野におけるハイスループットな測定システムとして、フランスBioLogic社製走査型プローブ電気化学測定システムM470の適用についてご説明します。

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USB-PIOの紹介: 生葉への光の影響の測定
本書はSKP手法の能力の概略です。ここで被覆欠陥の4つの異なる領域を撮像することができます。 M470がSKPモードで設定され、欠陥亜鉛被覆がTriCellTMに取り付けられて水平にされました。タングステン・プローブがサ

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大きな表面形状的特性を除去する間欠接触 (ic) SECM
ic-SECMはウォーリック大学によって開発された比較的最近の手法で、SECM測定の間にサンプルのトポグラフィが追跡されるのを可能にします。[1] ic- SECMを使用すると、プローブからサンプルまでの距離を大きなエリア

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