パワーブースターPBiシリーズは、電流出力型の大電流高速アンプです。
周波数帯域1MHzという高速応答により、大電流環境での高速制御ニーズに応えます。

[ラインアップ]
PBi250-10: 250W, 10Vpp, ±25A
PBi250-25: 250W, 25Vpp, ±10A
PBi500HV : 500W, 500Vpp, ±1A

20年にわたってアンテナ測定計測機器を供給してきた実績と経験を生かし、当社では、アンテナパターン測定システムを開発しました。 本システムは、当社で取り扱っている計測器だけでなく、国内外の多くの計測器メーカーが提供する計測機器・アンテナポジショナに対応できるように設計し、 多くの計測器ドライバーを用意しています。また、従来のアンテナ測定の要求に対応するだけでなく、移動体通信、無線LAN、ITSなどの分野からの要求に応えるべく、 継続的な機能拡張を行っています。

高速過渡現象測定システムは、ポテンシャルステップの様な高速過渡現象を、デジタルオシロスコープ、ポテンショ/ガルバノスタット等の計測器を用いて高速（5MHz）、高分解能（14bit）で測定するシステムです。 制御ソフトウェアはウィンドウズ対応で、複雑な計測器を操作する煩わしさはありません。測定条件の設定はマウス操作により行うことができ、感覚的に理解しやすくなっています。 測定結果は画面上にリアルタイムでグラフ表示され、マウスを使い、測定値を数値で直読することができるようにもなっています。 さらに、測定結果はExcelやMathematicaのような汎用解析ソフトウェアを用いて、より詳細に解析することができます。

車載型ブレーキ解析装置は、実際の車両に設置して制動時の速度・加速度などを測定する装置です。 この装置はimc社CRONOS車載試験システムを用いており、PCを使用せずに測定器本体のみで解析を行うことができるため、振動の激しい場所を走行中に測定することも可能です。 当社が開発した計測ソフトウェアにより、測定データから制動距離を算出したり、リアルタイムにFFT解析処理を行うことができます。さらに、自動で測定を開始することができますので、測定器を意識させずに一般ドライバーのデータを測定することもできます。 収集されたデータはメモリーカードやLAN経由でPCに転送することにより、グラフ表示や解析プログラムによるデータ処理を即座に行うことができ、報告書も簡単に作ることができます。

モータトルク自動測定システムは、小型モータ（トルク：0～480kg・cm）の動特性を自動的に測定する装置です。 マグトロール社製ヒステリシスブレーキを応用したダイナモメータをコンピュータにより制御し、簡単な操作でトルク・スピード特性曲線やトルク・電流特性曲線を測定し作図することができます。 トルク検出部には高精度のトルクトランスデューサを採用しており、測定精度はフルスケールの0.25%以内、再現性0.1%以内で測定することができます。 また、被試験物との物理的接触なしにトルクが発生するため、メンテナンスもほとんど必要とせず、長期にわたって安定した性能を実現しています。

EMI自動測定システムは、EMIテストレシーバとスペクトラムアナライザを中心に構成した装置です。 当社開発の計測ソフトウェアを組み合わせ、測定時間の短縮と1dB以下の測定精度を実現しました。特に、この計測ソフトウェアでは自動測定の課題であった各種ノイズ源に対しても独自のシーケンスによって対応範囲を拡大し、信頼性の高い測定結果を得ることができます。CISPR、EN、FCC、VCCI、ETSIなどの各種規格に対応し、放射雑音、雑音端子電圧、雑音電力、サイトアッテネーション、アンテナ端子測定などの幅広い測定を予備測定から最終測定まで自動で実行することができます。

放射イミュニティ自動測定システムは、IEC61000-4-3等の規格に準拠した測定システムで、放射電磁界にさらされた電子機器等の妨害耐性レベルを測定、評価します。当社開発のシステムソフトウェアにより、各種機器設定や自動測定、測定結果の評価などを簡単に行うことができます。均一電界面の測定、評価をはじめとして、パワーメータ、電界モニタによるキャリブレーション機能、各種安全装置も搭載し、信頼性の高い測定結果を得ることができます。

液晶ディスプレイの表示不良を引き起こす要因の一つに、パネル内の不純物イオンがあります。これまで、そのイオンの量や経時変化を定量的に測定することは困難でしたが、メルク・ジャパン（株）と当社で共同開発した液晶セル・イオン密度測定装置がこの問題を解決しました。本装置では、液晶セルに低周波の三角波電圧を印加した時に流れる過渡電流を測定し、得られた時間（電圧）対電流プロットの電流ピークの面積からイオン密度を、ピーク発生時間からイオン移動度を求めています。これにより、不純物イオンの量や経時変化の定量的測定を行うことができるようになりました。計測器の操作、波形解析はコンピュータから行い、ウインドウズ環境でほとんどの操作をマウスだけでできるようにするなど、使いやすさにも配慮しました。

強誘電体特性評価システムはFeRAMや圧電素子などに使用される強誘電体素子の特性を評価するシステムです。 メモリの1ビットに相当する微小容量の分極ヒステリシスから、数KVの電圧を印加する圧電素子の分極ヒステリシスまで測定可能です。 測定のノウハウを熟知した当社エンジニアによるシステムソフトウェアはユーザーフレンドリーで、強誘電体特性評価に必要な測定を簡単に行うことができます。 このシステムには当社が開発した高精度QVアンプを電流積分回路として使用しており、最小20nSのパルス幅で微小容量の分極ヒステリシス測定を正確に行うことができる業界初のシステムです。

電圧保持率測定はTFT-LCDセルの評価において欠くことのできない測定となっています。 また、STNではフリッカ、焼付きの原因の解析、PDLCではアクティブマトリクスへの応用で測定の必要性が高まってきています。 これに応えて、当社は任意波形発生器、高電圧サンプル・ホールドアンプなどを組み合わせた液晶電圧保持率測定システムを開発しました。 このシステムは高抵抗材料である液晶セルの電位降下を、インピーダンス変換機を用いて正確に再現し、16ビットの分解能にて波形解析します。 また、電圧印加OFF時の信号発生器側への電流の流れ込みを防ぐためにサンプル･ホールドアンプを採用しており、より正確な測定を行うことができます。