STEM

走査透過電子顕微鏡　TENSOR

新製品

各ピクセルでの電子線回折図形を高速で記録可能な4D-STEM 計測に特化

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。