高精度キャパシタンスブリッジ　2550A型

特長仕様アプリケーション

オンラインストア掲載製品

5ppm世界最高確度、0.8aF高分解能
比類ない高精度・高安定性

磁歪・熱膨張などの微小変位測定にも最適

(株)東陽テクニカ　理化学計測部
03-3245-1103
E-mail：keisoku[at]toyo.co.jp

特長

基本確度：5ppm
測定範囲：0.8aF～1.5μF
最小分解能：0.8aF
DCバイアス：±100V（外部）
ケーブル抵抗の補正
GPIB／IEEE1174インターフェース

世界最高分解能:0.8aF、確度:5ppm

Andeen-Hagerling社 2550A型は比類ない安定性、分解能、確度のキャパシタンス／損失ブリッジです。
ユニークなレシオトランスフォーマと温度コントロールされたヒューズドシリカ標準キャパシタにより非常に高い安定度と確度を実現しています。
またブリッジのバランシングは内蔵のマイクロプロセッサにより自動で行われ、従来の手操作によるブリッジに比べて非常に使いやすくなっています。
機器の操作は前面パネルによる操作だけでなく、標準装備のGPIBにてリモート制御も可能です。
2550A型の高い性能は、物理、低温物性分野をはじめ、化学、工業、度量衡の分野で活用できます。

計測表示部

計測値は前面パネルにある8桁LED表示部の上段にキャパシタンス、下段に損失を表示します。
表示単位はキャパシタンスがpF、損失はナノジーメンス、損失係数、直列－KΩ、GΩの中から選択できます。

驚異的なブリッジバランシングスピード

最初に測定する時の時間はわずか0.5秒以下です。
それに続く2回目以降の測定では50m秒／回です。

ケーブルによる誤差を補償し高確度を実現

使用するケーブル長を入力すると、ケーブルの抵抗値を補償します。

仕様

モデル	2550A型	2700A型【デモ】	2700A-OptionE型
測定ファンクション	C、G、tanδ、Rp、Rs
測定範囲	0.8aF～1.5μF
測定周波数	1kHz	50Hz～20kHz 周波数設定：33step （Option-C型：周波数分解能7桁）
基本確度	5ppm（周波数1kHz）		3ppm（周波数1kHz）
温度係数	0.035ppm/℃（周波数1kHz）
ACドライブ	0.3mVrms～15Vrms
DCバイアス	±100V（外部）
インターフェイス	GPIB、IEEE1174

2550A型

測定ファンクション	C、G、tanδ、Rp、Rs
測定範囲	0.8aF～1.5μF
基本確度	5ppm
温度係数	0.035ppm/℃
印加電圧	0.3mVrms～15Vrms
DCバイアス	±100V（外部）
周波数	1kHz
インターフェイス	GPIB、IEEE-1174

アプリケーション

de Hass van Alphen(dHvA) 効果測定
CNT(カーボンナノチューブ)、ナノワイヤのC-V特性評価
高磁場、極低温での温度測定
磁歪測定、微小変位(Å)測定
金属/絶縁体の厚さ測定
金属/非金属の熱膨張測定
MEMS(MEMSマイク)の静電容量測定
高真空、高圧力測定
放射線測定
気体/液体の濃度測定
水の汚染検出
バイオセンサ
高確度湿度測定
トナー、ポリマー等の誘電率測定
燃料ゲージキャリブレーション
一次、二次校正用トランスファー標準等の校正

de Hass van Alphen効果測定

■ de Haas van Alphen 効果（dHvA効果）
極低温において、金属の磁化率が磁場の逆数に比例して振動する現象であり、フェルミ面を実験的にとらえるのに最も有効な手法
■ キャパシタンス振動
サンプル磁化率の振動と同期して、ギャップ間のキャパシタンスが振動
→キャパシタンス測定から振動の周期が求まる
■ 高感度
弱磁性体のサンプルでも測定可能！

de Haas van Alphen（dHvA）効果測定

熱膨張・磁歪測定（新潟大学理学部物理学科電子物性研究室様）

■ 熱膨張
温度変化に対して試料長が変化する現象
■ 磁歪
磁性体の磁化の強さを変化させると歪みや形状変化が現れる現象
■ キャパシタンス法
試料長の変化を電極間のキャパシタンスの変化として測定する方法
→変位を1pmの感度で測定可能！

熱膨張・磁歪測定