ナノイメージング
IR情報 会社情報

セミナー

自動車部品の清浄度解析:SEMによる自動粒子解析法について

2017年9月7日(木)

12:00~13:00

場所

ベルサール東京日本橋 4F

▼▼本セミナーは、株式会社東陽テクニカ主催
東陽ソリューションフェア2017」講演の一部です▼▼



コンポーネントの高性能化・小型化が進む中で、汚染物質の管理は品質と信頼性を確保する上で重要性が高まっています。粒子サイズや構成元素を自動判別し、ISO16232に準拠したレポート作成に対応するSEMシステムについてご紹介します。

■講師:東陽テクニカ ナノイメージング&アナリシス 鈴木 直久
■参加費:無料
■東陽ソリューションフェア2017内、セッション番号【D1-B2】

【会場へのアクセス】

 
【セミナー申込みの手順について】
1. 東陽ソリューションフェア2017参加申込みサイトへアクセスする。

2. 東陽ソリューションフェア2017来場申込み 枚数(1以上)をプルダウンで選択、申し込むボタンをクリックする。

3. EventRegist(フェアで利用しているシステム)へログインする。
   初めての方は、新規会員登録を行ってください。
   メールアドレスとパスワードの設定が必要になります。

((((ログイン後、東陽ソリューションフェアのイベントスケジュールが表示されます))))

4. 参加するセッション選択画面で、
   【D1-B2】自動車部品の清浄度解析:SEMによる自動粒子解析法について を選択、次に進む(内容確認)ボタンをクリックする。

5. 「申請者情報」「参加者情報」を入力し、「オーダーを確定」をクリックします。

以上で登録完了となります。
登録は、30分以内に完了するようにしてください。完了しない場合は入力内容が破棄されます。

■セミナーに関するお問い合わせ先:
 株式会社東陽テクニカ ナノイメージング&アナリシス
 TEL: 03-3245-1239      Email: bunseki@toyo.co.jp

 

detail__vid--text.png

はい (0)
いいえ (0)

PAGE TOP