ナノイメージング
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展示会

JASIS2017展示会に出展します

2017年9月6日(水)~8日(金)

10:00~17:00

場所

幕張メッセ国際展示場 6ホール B508

当社は2017年9月6日(水)~8日(金)に開催されるJASIS2017展示会に出展します。
走査電子顕微鏡高速走査型プローブ顕微鏡システム、最新の汎用走査型プローブ顕微鏡、豊富なAFM/SPMプローブ、薄膜機械的特性評価装置等様々な最先端イメージング・分析装置を展示します。(実機展示あり)

<出展製品>
テーブルトップ原子間力顕微鏡:AFMWorkshop社製 TT-2 AFM
 - 優れたステージの温度・機械的安定性  - 高精度なAFMスキャンを実現
 - オープンデザイン  - 独自のカスタマイズが可能

AFM/SPM用プローブ:ナノワールド社・ナノツールズ社製 各種プローブ・カンチレバー
 - 世界標準のAFM/SPMプローブ  - 形状測定・電気測定・凝着力/付着力測定用等あらゆるニーズに対応
 - 高速AFM用プローブ液中測定専用プローブも提供  - 高耐久性カーボンチップ

薄膜機械的特性評価装置:ナノメカニクス社製 iMicro型/iNano型
 - ミクロンレベルの薄膜の硬度を高精度・自動測定  - 国際規格ISO14577に準拠した押し込み硬度試験
 - 自動圧子形状補正  - 4D 硬度・ヤング率マッピングオプション

走査電子顕微鏡(SEM):ZEISS社製各種FE-SEM
 - サンプルの極表面を観察する低加速電圧イメージング  - 熱に弱い高分子サンプルも高分解能に観察
 - チャージしやすいサンプル観察に対する新提案  - EDSなどの分析を高スループットで実行
  
 
お問い合わせ先:
株式会社東陽テクニカ ナノイメージング&アナリシス
電話:03-3245-1239、FAX:03-3246-0645
Email:bunseki@toyo.co.jp

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