2.8N/m

    Arrowプローブ

    NanoWorld AG

    Arrowプローブ

    矢印形状のカンチレバー先端にプローブを形成していますので、狙った測定場所へのアプローチを容易に行うことができます。高解像度イメージングにも使える高品質プローブです。
    ・高解像イメージング用Si単結晶プローブ
    ・背面から探針の位置がわかる優れたデザイン
    ・反射コート有、無の両方のパッケージをご用意

    OPUSバイオAFM用Au背面コートプローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUSバイオAFM用Au背面コートプローブ

    OPUS ライフサイエンス用Au背面コートプローブシリーズは、大気中・溶液中・腐食性化学物質のある環境において光源の反射率を向上および安定させます。
    探針側は金属コートのないタイプであり、先鋭な先端、化学的不活性、高Q値を提供しています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。 標準プローブから高速ACモードイメージング用まで幅広いラインナップをご用意しています。

    OPUSウルトラ・シャープ・プローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUSウルトラ・シャープ・プローブ

    ACモード高分解能イメージング用で、先端に鋭いダイヤモンド状スパイクをもつプローブです。
    両面金コートタイプで、大気中と溶液中のどちらでも安定したレーザー反射率をもたらします。四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。
    これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    カンチレバーと探針側は両方とも金がコートされていますが、ダイヤモンド上スパイク部はコートされていません。

    OPUSソフトタイプAFM用SIプローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUSソフトタイプAFM用SIプローブ

    OPUS-240ACシリーズはソフトサンプル向けACモード用プローブです。
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    金属コート無(OPUS-240AC-NN)/Al反射コート(OPUS-240AC-NA)のタイプがあります。

    FM(フォースモジュレーション)プローブ  

    NanoWorld AG

    FM(フォースモジュレーション)プローブ  

    FMシリーズは、粘弾性・凝着・摩擦などのサンプル表面の機械的特性を評価するフォースモジュレーション測定用に設計されています。カンチレバーのバネ定数が、コンタクトモード用(CONTシリーズ)とタッピングモード用(NCH、NCL、NCSTシリーズ)のギャップを埋める柔らかさなので、両方の測定モードに使用することも可能です。

    OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ

    4XCーGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ2種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:ソフトサンプルへのACモード用
    カンチレバーC:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーD:高速スキャン用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

    OPUS高アスペクトプローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUS高アスペクトプローブ

    シリコン単結晶探針の先端のカーボンナノファイバーにより、深いトレンチをもつ試料をACモードで形状測定を行うのに適したプローブです。 ナノファイバーの曲率半径の代表値は10nmで、先端から200nmの高さにおける直径は50nmです。
    両面金コートのため、大気中と溶液中のどちらでも安定したレーザー反射率をもたらします。四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。
    これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。
    カンチレバーと探針側は両方とも金がコートされていますが、カーボンナノファイバー部はコートされていません。

    EFMプローブ

    NanoWorld AG

    EFMプローブ

    チップ先端部にPtIr5をコートしたプローブ。表面電位顕微鏡や電流イメージングに使用可能です。

    磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 

    NanoWorld AG

    磁気力顕微鏡(MFM)用プローブ 

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。幅広いアプリケーションに対応するため、各種磁性膜(強磁性・軟磁性)を取り揃えています。

    OPUS磁気力AFM用プローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUS磁気力AFM用プローブ

    磁気力顕微鏡(MFM)用のプローブです。
    探針側の硬質磁性材料コートによって、高磁気力感度と高分解能を確保しています。 カンチレバー背面のAlコートは、光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

    OPUS電気力AFM用プローブ

    OPUS by μmasch®

    OPUS電気力AFM用プローブ

    ACモードを用いる電気力顕微鏡(EFM)、ケルビンフォース顕微鏡(KPFM)などの電気特性測定用のプローブです。
    カンチレバー及び探針全体の白金コートによって、高い電気導電性と光源の反射率を向上させています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

    ナノインデンテーション用Ballチップ 

    nanotools GmbH

    ナノインデンテーション用Ballチップ 

    チップ先端に対称性の高い球状のHDCを成長させたプローブです。主にナノインデンテーション用に使用されます。20nm~2000nmまで幅広いラインアップを揃えています。