ナノイメージング
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水平力測定

  • OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS4レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    4XCーGGシリーズは、チップ両端にそれぞれ2種類、合計4種類の異なるカンチレバーがあり、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:ソフトサンプルへのACモード用
    カンチレバーC:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーD:高速スキャン用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
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    OPUS3レバータイプAFM用SIプローブ
    OPUS by μmasch®

    3XCシリーズは、3種類のカンチレバーが、さまざまな測定モードに対応します。
    カンチレバーA:コンタクトモード用
    カンチレバーB:標準ACモードイメージング用
    カンチレバーC:ソフトサンプルへのACモード用
    先鋭な先端、化学的不活性、高Q値の設計となっています。
    四面体探針はカンチレバーの先端に精度よく設置されています。これにより、高い再現性をもって試料表面の測定位置に探針を合わせる事が可能になります。

  • CONTSC/LFM(ショートレバー)プローブ 
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    CONTSC/LFM(ショートレバー)プローブ 
    NanoWorld AG

    CONTSC/LFMシリーズは、コンタクトモードのアプリケーションである水平力(LFM)や摩擦力(FFM)測定でお使い頂けるプローブです。コンタクトモードからノンコンタクトモードへのプローブ交換を容易に行う必要のあるAFM装置のためにカンチレバーの長さを225μmと短くしてあります。

  • SiO2コロイダルプローブ 
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    SiO2コロイダルプローブ 
    sQube

    チップレス・カンチレバー先端にSiO2粒子を付着させたコロイダル・プローブです。粒子相互間あるいは粒子と表面との間のフォースを測定するのに非常に有効です。

  • ボロシリケイトガラスコロイダルプローブ 
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    ボロシリケイトガラスコロイダルプローブ 
    sQube

    チップレス・カンチレバー先端にボロシリケイトガラス(硼珪酸ガラス)粒子を付着させたコロイダル・プローブです。粒子相互間あるいは粒子と表面との間のフォースを測定するのに非常に有効です。

  • 金コロイダルプローブ 
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    金コロイダルプローブ 
    sQube

    チップレス・カンチレバー先端に金粒子を付着させたコロイダル・プローブです。粒子相互間あるいは粒子と表面との間のフォースを測定するのに非常に有効です。

  • ポリスチレンコロイダルプローブ 
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    ポリスチレンコロイダルプローブ 
    sQube

    チップレス・カンチレバー先端にポリスチレン粒子を付着させたコロイダル・プローブです。粒子相互間あるいは粒子と表面との間のフォースを測定するのに非常に有効です。

  • アクリル樹脂コロイダルプローブ 
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    アクリル樹脂コロイダルプローブ 
    sQube

    チップレス・カンチレバー先端にアクリル樹脂粒子を付着させたコロイダル・プローブです。粒子相互間あるいは粒子と表面との間のフォースを測定するのに非常に有効です。

  • スフィアチップ 
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    スフィアチップ 
    NanoWorld AG

    球形プローブです。先端の径がそれぞれ0.8μm、2μm、4μmと異なる3種用意されています。プローブと試料の接触面積を見積もることができるので、主に力学特性の計測に用いられます。バネ定数も計測レンジに合わせて3種用意されています。特別開発品です。

  • ナノインデンテーション用Ballチップ 
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    ナノインデンテーション用Ballチップ 
    nanotools GmbH

    チップ先端に対称性の高い球状のHDCを成長させたプローブです。主にナノインデンテーション用に使用されます。20nm~500nmまで幅広いラインアップを揃えています。

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