形状測定用 高Q値 プローブ
超高真空（UHV）環境下において使用する高Q値プローブです。35000以上の高いQ値を有し、カンチレバー背面のAl反射膜によって反射率と信号対雑音比（SN比）が向上しています。典型的な先端曲率半径が7nm未満で、かつ再現性も高いPointProbePlusシリーズをベースプローブとしています。
特長
- 超高真空下で高Q値を実現（35000以上）
- 先端がより鋭利なPointPlobePlusをベースプローブに使用し、先端曲率半径7nm未満（10nm未満を保証）
仕様
| 製品シリーズ名 | 測定モード | タイプ | チップコート | 反射コート | 曲率半径 | カンチレバー長さ | バネ定数 | 共振周波数 | チップ高さ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PPP-QNCHR | ACモード | 高共振周波数 | - | Al | 7nm | 125μm | 42N/m | 330kHz | 10～15μm |
| PPP-QFMR | ACモード | フォースモジュレーション | - | Al | 7nm | 225μm | 2.8N/m | 75kHz | 10～15μm |