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形状測定用 高Q値 プローブ   

NANOSENSORS
形状測定用 高Q値 プローブ   8338_ext_07_0.jpg
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超高真空(UHV)環境下において使用する高Q値プローブです。35000以上の高いQ値を有し、カンチレバー背面のAl反射膜によって反射率と信号対雑音比(SN比)が向上しています。典型的な先端曲率半径が7nm未満で、かつ再現性も高いPointProbePlusシリーズをベースプローブとしています。

特長

■ 超高真空下で高Q値を実現(35000以上)
■ 先端がより鋭利なPointPlobePlusをベースプローブに使用し、先端曲率半径7nm未満(10nm未満 
  を保証)

仕様

製品シリーズ名 測定モード タイプ チップコート 反射コート 曲率半径 カンチレバー長さ バネ定数 共振周波数 チップ高さ
PPP-QNCHR ACモード 高共振周波数 - Al 7nm 125μm 42N/m 330kHz 10~15μm
PPP-QFMR ACモード フォースモジュレーション - Al 7nm 225μm 2.8N/m 75kHz 10~15μm
*値はティピカルです。

ラインナップ・見積依頼

型番 本数 特性表
PPP-QNCHR-10 10 なし
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PPP-QFMR-10 10 なし
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