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平坦度校正用サンプル  

NanoWorld AG
平坦度校正用サンプル  6302_ext_07_0.png
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SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

2019年9月9日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせていただきます。
ご不明の点がございましたら、弊社営業担当者にお問い合わせください。


 

特長

・平坦度:100μm角で10nm(p-v)
・材 質:水晶上にCrコート

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