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平坦度校正用サンプル  

NanoWorld AG
平坦度校正用サンプル  6302_ext_07_0.png
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  • 6302_ext_

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SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

特長

・平坦度:100μm角で10nm(p-v)
・材 質:水晶上にCrコート

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