電界放出形走査電子顕微鏡 【CLARA】
特長
- 超高分解能、フィールドフリーSEMイメージング
- インカラム検出器による二次電子 / 反射電子検出
- ユニークな光学系により最低倍率が2倍、容易かつ高精度なサンプルナビゲーションが可能
- チャンバー内の3Dモデル化により、カラムや検出器へのサンプル衝突回避
- 大型で重い試料に対応したチャンバーを用意
- カソードルミネッセンスやラマン顕微鏡との融合が可能
- ミクロトームユニット搭載によるSerial block-face imaging
セラミックスナノフレークのノンコーティング観察
Li電池正極材のエネルギーフィルタリング像
加速電圧20kV、ビーム電流20nAで取得した高空間解像度EBSD マップ
ステージ上にミクロトームユニットを装着することにより
Serial block-face imagingが可能
仕様
電子銃 | 高輝度ショットキーエミッタ |
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SEMカラム | 静電場・磁場複合レンズ搭載BrightBeamTMカラム |
分解能 | 標準モード 0.9nm at 15kV 1.4nm at 1kV ビーム減速モード 1.2nm at 1kV STEM 0.8nm at 30kV |
最大観察視野 | 50mm at max WD |
加速電圧 | 50V ~ 30kV |
最大プローブ電流 | 400nA |