NanoWorld AG

平坦度校正用サンプル 

SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

2019年9月9日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせていただきます。
ご不明の点がございましたら、弊社営業担当者にお問い合わせください。

特長

  • 平坦度:100μm角で10nm(p-v)/li>
  • 材 質:水晶上にCrコート

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型番 本数 特性表  
FLAT 1 オプション
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