NanoWorld AG

高さ校正用サンプル 

高さ(Z)を校正するためのサンプルです。

2019年9月9日以降、在庫がなくなり次第、順次販売終了とさせて頂きます。ご不明の点がございましたら、弊社営業担当者にお問い合わせください。

特長

  • ステップハイトリファレンスの解析画面
  • 段差:8nm

キャリブレーション・オプション

PTB によるデータ の例

NANOSENSORSTM では、NMI (German National Metrology Institute:ドイツ計量標準機関) と PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt:ドイツ物理技術研究所) による寸法計測標準化の手順を提供することができます。
オプション(有償)として、PTBのトレーサビリティに基づく測定方法でお客様のリファレンス・サン プルを計測し、キャリブレーション・データシートでご報告するサービスがございます。

タイプ 光学手法による キャリブレーション SPM による キャリブレーション
ピッチ・リファレンス 光学的回折法 10×10 µm エリア (1点以上可)
ステップ高さリファレンス 干渉顕微鏡 別オプション
平坦度リファレンス 干渉顕微鏡

見積依頼

型番 本数 特性表  
H8 1 オプション
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