2022年度のニュース一覧
- 2022.05.17 展示会 トライボロジー会議2022春 東京にてオンライン展示します!
- 2022.05.17 製品情報 TESCAN社 Ga FIB-SEMシステム【AMBER】のカタログを更新しました。
- 2022.04.25 セミナー 【5月20日】ナノインデンターオンラインセミナー~微小領域における機械特性評価事例~を再配信します。
- 2022.04.22 セミナー 【開催中】硬度・機械特性評価技術オンラインセミナー2022
- 2022.04.19 展示会 日本顕微鏡学会第78回学術講演会 併設展示会に出展します。
- 2022.03.08 技術情報 【事例紹介】~ナノインデンターによる生体材料やゲルの評価事例~をアップしました。
- 2022.03.03 セミナー KLA社主催 ディスプレイ材料評価技術シンポジウム(アジア向け) のご案内
- 2022.02.28 製品情報 ナノインデンター用加熱・冷却ステージオプション「VTS」を販売開始!
- 2022.02.01 お知らせ TESCAN社プラズマFIB-SEMが「はやぶさ2」初期分析プロジェクトに貢献!
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2022.02.01
セミナー
北海道立工業技術センターにて、弊社エンジニアが講演を行います。
「電界放射型走査電子顕微鏡の基礎と応用事例 ~導入機器紹介と実演~」(2022年2月18日) - 2022.01.31 技術情報 【事例紹介】~ナノインデンテーションによるPVDコーティングの高温機械特性評価~をアップしました。
- 2022.01.05 セミナー 【招待講演あり】ナノインデンターオンラインセミナー ~微小領域における機械特性評価~
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