ニュース一覧
- 2021.07.02 展示会 実用顕微評価技術セミナー2021に出展します
- 2021.06.28 展示会 2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC 2021)に出展します。
- 2021.06.18 製品情報 NenoVision 社のIn-SEM AFM LiteScope の取り扱いを開始しました。
- 2021.06.16 セミナー 6月30日「次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション」オンラインセミナーを開催します。
- 2021.06.15 お知らせ NANOSENSORS製品 取り扱い終了のお知らせ
- 2021.06.11 製品情報 「FIB-SEMに搭載可能な ToF-SIMS」のカタログをアップしました。
- 2021.06.09 展示会 日本顕微鏡学会 第77回学術講演会に出展します。
- 2021.05.28 お知らせ 小惑星探査機「はやぶさ 2」が持ち帰った 小惑星「リュウグウ」の試料初期分析プロジェクトに協力
- 2021.05.25 セミナー ナノインデンター オンラインセミナー開催中！
- 2021.05.21 製品情報 TESCAN電子顕微鏡 MIRA、VEGAのカタログをアップしました。
- 2021.05.12 セミナー 「TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021」開催 6月29日＆7月13日
- 2021.04.27 お知らせ ～高性能なAFMを低価格で提供～AFMWorkshop社製HR-AFMを販売開始
- 2021.04.21 セミナー ナノインデンター オンラインセミナー開催！ 初回は4月23日
- 2021.03.18 製品情報 X線マイクロCTシステム DynaTOM、UniTOM XLのカタログをアップしました。
- 2021.03.04 製品情報 X線マイクロCTシステム CoreTOMのカタログをアップしました。
- 2021.03.02 製品情報 FIB-SEMトモグラフィー、電子ビームリソグラフィーのカタログをアップしました。
- 2021.02.02 製品情報 自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】のカタログをアップしました。
- 2020.12.28 技術情報 ナノインデンテーションを用いた放射線損傷の評価事例
- 2020.12.22 セミナー 半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナーを開催します(2021年1月29日)
- 2020.12.07 セミナー 弊社社員が、物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム地域セミナーで、XeプラズマFIB-SEMに関する講演を行います。（2021年1月8日）
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