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NanoWorld AG

イノベーションをキーワードに、ヨーロッパで最もナノテクノロジー研究が盛んなスイスに本社を置く、走査型プローブ顕微鏡(SPM)・原子間力顕微鏡(AFM)用のプローブのリーディングカンパニーです。これまでに蓄積してきた独自の製造・品質管理のノウハウにより、他に類の無い高性能・高品質なプローブを提供しています。
 

  • USC(ウルトラショートカンチレバー) 
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    USC(ウルトラショートカンチレバー) 
    NanoWorld AG

    USC(ショートカンチレバーシリーズ)は、5MHzまでの高共振周波数で測定できるようデザインされた高速AFM用プローブです。極微小カンチレバーとシャープで耐摩耗性に優れた高密度カーボンチップを組み合わせています。

  • Arrow UHFプローブ 
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    Arrow UHFプローブ 
    NanoWorld AG

    ACモード・超高共振周波数用の、カンチレバー長が非常に短いタイプです。

  • A-probe 
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    A-probe  
    NanoWorld AG

    A-Probeは音さ型水晶振動子とシリコンカンチレバーを組み合わせた自己励振・自己検知型のACモードプローブです。超高真空(UHV)や散乱型SNOMなどへの応用や光てこ不要の簡易型AFMの構築に利用できます。

  • プローブストレージキット 
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    プローブストレージキット 
    NanoWorld AG

    プローブを貯蔵するための GelPak(R)ボックス と ピンセット のセットです。

  • 静電気破壊防止用キット 
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    静電気破壊防止用キット 
    NanoWorld AG

    静電気によるチップの破損を防止します。

  • アライメントチップ 
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    アライメントチップ
    NanoWorld AG

    このアライメントチップとX-Yアライメントに対応したプローブを同時に使用することで、長さの異なるカンチレバーをSPMにセットした場合でも、チップ部先端の位置がほぼ同じ位置にセットされます。プローブ交換後も、レーザー位置調整に費やす時間を大幅に短縮させることができます。対応したプローブのホルダー部には、アライメント用の溝が形成されています。

  • X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 
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    X-Y校正用サンプル(300nmピッチ) 
    NanoWorld AG

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

  • X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 
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    X-Y校正用サンプル(200nmピッチ) 
    NanoWorld AG

    平面(X-Y)方向の校正をするためのサンプルです。

  • 高さ校正用サンプル 
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    高さ校正用サンプル 
    NanoWorld AG

    高さ(Z)を校正するためのサンプルです。

  • 平坦度校正用サンプル 
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    平坦度校正用サンプル 
    NanoWorld AG

    SPM/AFMスキャナの湾曲を校正するためのサンプルです。

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