ナノイメージング
IR情報 会社情報

トナー上フィラーの観察

201608151901_1.png 201608151901_2.png
  • デモ・受託分析 対応

    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
    1

    分析用高分解能FE-SEM 【MERLIN】
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    MERLINは圧倒的な低加速電圧・高コントラストの機能に加え、さらなる高分解化を実現したFE-SEM です。最大300nA までの大電流オプションも選べ、高分解能観察からEDS、WDS、EBSD 等の分析まで、モード切替を行うことなく実行できます。

  • デモ・受託分析 対応

    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
    1

    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI SEM シリーズは実績のあるGEMINI レンズを進化させたNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現しました。同時に電子の検出効率を最大で20倍改善することで、微小プローブ電流設定時でも高コントラスト・高分解能観察が可能なため、ビームダメージに弱いサンプルにも最適です。また絶縁材料のEDS/EBSD分析に有用な高分解能低真空モードを有しており、様々な用途に対応しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
    1

    電界放出型走査電子顕微鏡 GeminiSEM300
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    GEMINI 300は、GEMMINI 500シリーズと同じNano-Twin レンズを採用しており、極低加速領域(~ 1kV)での高分解能・高コントラスト化を実現すると同時に、Carl Zeiss FE-SEMの特徴の一つであるAsB(低角度反射電子検出器)や、低真空条件下での高分解能イメージングを実現するNano-VPなどが装備可能なマルチ・パーパスFE-SEMです。
    コストパフォーマンスもよく、様々な試料に対応しなければならない分析部門に適しています。

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
    1

    電界放出型走査電子顕微鏡 SIGMA 500
    Carl Zeiss Microscopy GmbH

    SIGMA(シグマ)500でも、信号分離を可能するGEMINIレンズを採用しています。前シリーズの上位機種に採用されていたIn-lens DUO(エネルギーを選択型in lens BSE)も搭載可能で、コストを抑えつつも、Carl Zeiss FE-SEMの最大の特徴である画像診断が可能となっています。更に、元素分析を高いスループットで実現するための高立体角EDSポートの設計、14個に上るアクセサリーポート数など、観察だけでなく分析も重要視するユーザに適しています。

PAGE TOP

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。