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セミナー

ホール効果測定、C-V測定によるワイドギャップ半導体の物性評価 技術セミナー

2016年5月24日(火)

13:30~17:30

場所

新大阪ブリックビル3階 会議室

低炭素社会の実現を目指してGaNやSiCを利用したパワーデバイスの開発が盛んに行われています。この研究の場面において、C-V測定やホール測定は材料の基礎的なパラメータを得る方法として大変重要な位置を占めています。

本セミナーでは京都大学 須田淳准教授をお招きし、ホール効果測定、C-V測定によるワイドギャップ半導体の物性評価について、基礎から応用までをご講演いただきます。

日時 開催内容 費用 空席 定員
2016年5月24日(火)
13:30~17:30
ホール効果測定、C-V測定によるワイドギャップ半導体の物性評価 技術セミナー 無料 90
■講師 京都大学 工学部 須田淳 准教授
   
■講演内容 1. 半導体キャリア統計の基礎
  2. ホール測定の実際と評価結果の解釈
  3. C-V測定の実際と評価結果の解釈
  4. 高度なC-V測定(過渡特性、周波数依存性など)
     
■開催場所
 
新大阪ブリックビル3階 会議室
大阪府大阪市淀川区宮原1-6-1(JR新大阪駅から徒歩3分、MAPはこちら

 ※セミナー内容は一部変更になる場合がございます。
 ※会場収容人数の関係で、お客様のご希望に添えない場合がございます。お早めにお申し込み下さい。
 ※競合会社およびその関係者の方々は、お断りさせていただく場合がございます。


■お問い合わせ先
 株式会社東陽テクニカ 大阪支店
 (担当: 池田勝紀、藤原栄美)
 Tel: 06-6399-9771, E-mail: lakeshore@toyo.co.jp

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