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セミナー

C-V測定による半導体デバイス物性の評価法 技術セミナー

2016年2月19日(金)

13:00~17:00

場所

株式会社東陽テクニカ テクノロジーインターフェースセンター9F

半導体材料としてシリコンはもちろん、パワーデバイスを初めとする分野においてGaN、SiCやグラフェンといった新材料の研究が近年盛んに行われております。このような研究の場面において、C-V測定はホール測定とともに半導体デバイスの物性を評価する方法として一般的なものとなっております。

本セミナーでは東京大学 鳥海明教授をお招きし、C-V測定による半導体デバイスの物性評価についてご講演いただきます。


※本セミナーは募集定員に達したため、申し込み受付を終了させていただきました。

日時 開催内容 費用 空席 定員
2016年2月19日(金)
13:00~17:00
C-V測定による半導体デバイス測定の評価法 技術セミナー 無料 60
■講師 東京大学 大学院工学研究科 鳥海明 教授
   
■講演内容 1. インピーダンス評価の基礎
  2. C-V特性の解析技術と応用
  3. C-V測定とHall効果測定の比較
  4. 新材料への展開
     
■開催場所
 
東陽テクニカ テクノロジーインターフェースセンター
東京都中央区日本橋本石町1-1-2(JR東京駅から徒歩5分、MAPはこちら

 ※セミナー内容は一部変更になる場合がございます。
 ※会場収容人数の関係で、お客様のご希望に添えない場合がございます。お早めにお申し込み下さい。
 ※競合会社およびその関係者の方々は、お断りさせていただく場合がございます。


■お問い合わせ先
 株式会社東陽テクニカ 理化学計測部
 (担当: 山口政紀、渡辺裕子)
 Tel: 03-3245-1103, E-mail: lakeshore@toyo.co.jp

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