物性/エネルギー
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(昼食付)半導体基礎入門セミナー

2019年12月4日(水)

13:00~17:00

場所

株式会社東陽テクニカ
TIセンター9F

シリコン半導体から昨今盛んに研究が取り組まれているワイドギャップ 半導体の研究には様々な計測器が使用されています。
今回は国立研究開発法人物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点 大橋 直樹氏をお招きし、シリコン半導体や酸化物半導体などの導電性材料計測について分かりやすくご講義いただきます。また後半のセッションでは実機を用いてデモ測定もご覧いただきます。

日時 開催内容 費用 空席 定員
2019年12月4日(水)
13:00~17:00
導電性材料計測入門セミナー 無料 70名
※本セミナーは当初「導電性材料計測入門セミナー」という名称でしたが、
 「半導体基礎入門セミナー」に名称を変更しました。
 セミナー内容等には一切変更ございません。

■セミナー内容

第1部:導電性材料計測入門 13:10 ~ 15:10

    [講師]国立研究開発法人物質・材料研究機構 機能性材料研究拠点
        大橋 直樹 氏 

第2部:デモ実演 15:40 ~ 16:30
    ~新製品M91 FastHall™コントローラと
         ACホール法を用いたResiTest8400型での測定~

    [講師]株式会社東陽テクニカ 理化学技術部
        北原 忠

■開催場所:株式会社東陽テクニカ
      テクノロジーインターフェースセンター(TIセンター)
      9階セミナー室(MAP
      
〒103-0021 東京都中央区日本橋本石町1-1-2
       銀座線/東西線:日本橋駅 A1出口から徒歩5分
       半蔵門線:三越前駅 B3出口から徒歩1分/B5出口から徒歩3分


※セミナー内容は一部変更になる場合がございます。
※会場収容人数の関係で、お客様のご希望に添えない場合がございます。お早めにお申し込みください。
※競合会社及びその関係者の方々は、お断りさせていただく場合がございます。



■お問い合わせ先■
株式会社東陽テクニカ 理化学計測部
担当:伊豫田秀雄、立石瑛花
Tel: 03-3245-1103
E-mail: keisoku@toyo.co.jp

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