物性/エネルギー
IR情報 会社情報





+150℃dp 高露点 鏡面冷却式露点計 UHQ-4P型 

Buck Research Instruments LLC
+150℃dp 高露点 鏡面冷却式露点計 UHQ-4P型
0

UHQ-4P型は、高露点測定用の鏡面冷却式露点計で、+150℃dpまでの高露点測定が可能です。測定精度も±0.2℃dpを実現しました。
また最大圧力0.7MPa下での露点測定を可能にした事により、燃料電池の評価、コージェネレーションのプロセスラインの評価に最適です。

(株)東陽テクニカ 理化学計測部
tel:03-3245-1103
e-mail:keisoku[at]toyo.co.jp
お問合せ・お見積希望

特長

高露点:+150℃dp まで高露点測定が可能
高確度測定:±0.2℃dp
最大圧力:0.7MPa下での露点測定が可能
光学部分を高温から保護する先進テクノロジー

UHQ-4P型は、高露点:+150℃dpまで測定可能な 鏡面冷却式露点計です。
高露点測定に適した構造で、高露点でも安定した測定を行えます。
鏡面冷却式により高確度:±0.2℃dpの測定が可能で、光学部品を高温や結露から保護する先進のテクノロジーにより 耐久性、信頼性を向上させています。
最大圧力:0.7MPa下での露点測定を可能にした事により、燃料電池の評価、コージェネレーションのプロセスラインの評価にも最適です。


 

テクノロジー

測定原理
 

光学部品を高温や結露から保護
UHQ-4P型は、モニター、センサ一体型のサンプリング方式による構造です。
サンプリング方式では、ガスを導入するチャンバー内を、結露防止のため露点温度以上に加熱保温する必要があります。UHQ-4P型は、チャンバー内の温度を常に露点温度以上(耐熱160℃)に加熱保温するように自動制御(露点+10℃)されています。
チャンバー内の接ガス部(金属部)には、鏡面も含めSUS316L材を使用しており、脱ガスによる水分の吸脱着や腐食にも優れています。
光学部品は、測定ガスに直接接触していないため、誤操作等による結露があった場合でも露点計の主要部品である光学部品にダメージを与えない構造となっています。
image_toyo_snsr_br_img_htt103-2.jpg.jpg


コイルヒータによる鏡面の温度制御
鏡面の温度制御は、ペルチェによる加熱・冷却方式がよく知られていますが、UHQ-4P型では、コイルヒータで鏡面を加熱制御しています。鏡面を冷却するシステムが無いため、ペルチエ方式露点計に比べ耐圧性能が一段と向上しています。
冷却方向への電気的な温度制御が無いため、測定可能な露点温度の下限は外周温度(環境温度)プラス15℃程です。電気的な制御によるドリフトを最小限におさえることができ、安定した測定が可能です。
急激な露点変化でも迅速な応答性が期待できます。また、長時間に渡る高露点測定にも高精度で安定した測定をしています。

仕様

 
 露点測定  +40℃dp~+150℃dp
 確度:±0.2℃dp
 水分濃度測定  3%~100%(標準圧力)
 応答速度  ~20秒(10℃ step,typical)
 サンプル流量  0.05~0.5L/分
 使用環境  温度:-40℃~+40℃
 圧力:~150psia
 相対湿度:0~100%RH(結露しないこと)
 インターフェイス  RS232
 アナログ出力  0~10V、4~20mA
 寸法・重量  20(幅)x36(奥)x20cm(高) 重さ:4kg
 電源  AC電源:100~240VAC、50~60Hz
 DC電源:24~28VDC
 <45W
 仕様は動作環境に依存します。  

アプリケーション

 150℃までの高露点測定
 圧力下での燃料電池の評価に
 改質器の水分管理に
 コージェネレーションのプロセスライン評価に
 
 

detail__vid--text.png

はい (0)
いいえ (0)

PAGE TOP

本ウェブサイトではサイト利用の利便性向上のために「クッキー」と呼ばれる技術を使用しています。サイトの閲覧を続行されるには、クッキーの使用に同意いただきますようお願いいたします。詳しくはプライバシーポリシーをご覧ください。