技術サポート/アフターサービス

カスタマイズ/自社開発

当社は、電子計測器の専門商社として長年海外の優れた技術を日本へ紹介してきました。その間に培ってきたノウハウと技術力を活かし、欧米の先進計測器メーカーの製品をそのままの形でお客様に提供するだけでなく、当社オリジナル製品の開発にも取り組んでいます。
海外の優れた計測器を日本のお客様のニーズにあったシステムに組み上げることはもとより、単体の計測器ではなしえない高度な計測を実現するために優れた製品を組み合わせたカスタムメイド計測システムの開発、日本のお客様のニーズをさらに追求し海外にはない当社のオリジナル計測システムの開発をおこなっています。
これらの計測システム開発は、メーカーに匹敵する技術力を持つ当社ならではのものです。

カスタムメイド測定システム

カスタムメイド計測システムでは、当社が取り扱っている製品からお客様の計測に必要な計測器を選択し、それらとコンピュータを組み合わせて計測を自動化するソフトウェアを開発してヒューマンインターフェースを重視した操作性のよさを実現しています。

カスタムメイド計測システム

その具体例として、強誘電体素子の分極ヒステリシス特性を評価する「強誘電体特性評価システム」があります。当社の取扱製品である2414型任意波形発生器、Wavebook516型高速データ収集システムを使用し、測定のノウハウを熟知した当社エンジニアが開発した計測ソフトウェアにより、強誘電体特性評価に必要な測定を簡単に行うことができます。また、このシステムには当社が開発した高精度QV変換アンプを電流積分回路として使用しており、最小20nsのパルス幅で微小容量の分極ヒステリシス測定を正確に行うことができる業界初のシステムとなっています。
その他の代表的なシステムとして、放射電磁界自動測定システムをはじめとする種々のEMI/イミュニティ自動測定システムや、DC& ACホール係数測定システムがあります。

オリジナル測定システム

お客様の様々なニーズにお応えするためにさらに一歩進んで、当社独自の製品開発にも意欲的に取り組んでいます。これは、核となる計測器そのものを一から開発してシステム化するものです。
一例として、液晶材料メーカーのメルク・ジャパン(株)と共同開発した液晶セル・イオン密度測定装置が挙げられます。

オリジナル測定システム

液晶ディスプレイの表示不良を引き起こす要因の一つに、パネル内の不純物イオンがあります。これまで、そのイオンの量や経時変化を定量的に測定することは困難でしたが、この液晶セル・イオン密度測定装置がこの問題を解決しました。本装置では、液晶セルに低周波の三角波電圧を印加した時に流れる過渡電流を測定し、得られた時間(電圧)対電流プロットの電流ピークの面積からイオン密度を、ピーク発生時間からイオン移動度を求めています。これにより、不純物イオンの量や経時変化の定量的測定を行うことができるようになりました。計測器の操作、波形解析はコンピュータから行い、Windows環境でほとんどの操作をマウスだけでできるようにするなど、使いやすさにも配慮しました。
また、当社の技術力はこうしたシステムだけではなく、プラズマディスプレイ評価用の高速電圧アンプや、ディスクドライブ、CD-ROMのインターフェースとして知られるATA/ATAPIバスアナライザなどの計測器の開発にも活かされています。

システム開発を支える技術力

このようなシステム開発が可能なのも、これらの計測器を使いこなすノウハウや、計測器を最適な方法で使用し最大の能力を発揮させるという基本的知識を有しているのはもちろんのこと、お客様の計測対象分野とその最新の計測手法を熟知したアプリケーションエンジニア、計測器の複雑な制御や最新のプログラミング手法に習熟したソフトウェアエンジニアを多数擁しているからにほかなりません。

カスタマイズ/自社開発 開発実績

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