FE-SEM,AFM,SPM,デジタル顕微鏡,カンチレバー,硬度計,CTスキャナ
 
分析システム営業部では、マイクロスコピック・アナリシスに特化
したユニークかつパワフルな分析機器をご提供しております。
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  PointProbe / PointProbe Plus AFM/SPM用 標準プローブ  
ナノワールド(NanoWorld)/ナノセンサーズ(NANOSENSORS)社は、10年以上に及ぶ経験を持つ走査型プローブ顕微鏡(SPM)用プローブ/カンチレバー・メーカーです。
大気中、真空中の測定において、世界中のAFM/SPMユーザーの皆様にご使用いただいております。
PointProbe(R)/PointProbe(R) Plusシリーズは、市販のAFM/SPMに広くご利用いただけるシリコン製カンチレバーです。 チップ先端の曲率半径はティピカル値10nm、保証値15nm以下です。
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標準的な表面形状観察に最も汎用的に使用されるプローブです。
各種測定モード(ACモード、コンタクトモード、フォースモジュレーション)に対応しております。
◆特長
・ 静電気による帯電を防ぐドーピング処理
・ 抵抗値は0.01～0.025Ω・cm
・ シリコンは化学的に不活性なので液中、電気化学測定にも対応
・ 温度変化によるカンチレバーの変形が少ない
・ ストレスに強く、耐久性に優れている
・ 高感度測定を可能にする高いQファクター
◆PointProbe(R)
・ チップ先端曲率半径：10nm以下 (保証値：15nm以下)
・ ハーフコーンアングル：10°以下 (チップ先端から200nmまで)
◆PointProbe(R) Plus
・ PointProbe(R)のチップ先端を先鋭化
・ チップ先端曲率半径：7nm以下 (保証値：10nm以下)
・ ハーフコーンアングル：10°以下 (チップ先端から500nmまで)
◆カンチレバー
・  カンチレバー背面はフィードバックレーザーの位置合わせが容易に行えるよう、幅は広くしております。
・  ノンコンタクトモード(加振モード)でのエアダンピングを抑えるため、チップサイドのカンチレバー幅を狭く設計しております。
・  ご用途に応じカンチレバーの長さ、幅、厚さをお選びいただけます。また磁気力顕微鏡モードをはじめとした特殊プローブもご用意しております。